Gebraucht KLA / TENCOR Archer 100 #9372751 zu verkaufen

KLA / TENCOR Archer 100
ID: 9372751
Overlay measurement system.
KLA/TENCOR Archer 100 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die fortschrittliche Optik und Bildverarbeitung kombiniert, um eine frühzeitige Erkennung und Diagnose von Fehlerquellen in der Halbleiterherstellung zu ermöglichen. Mit seiner modularen Architektur und seinen fortschrittlichen Fähigkeiten reduziert KLA Archer 100 die Zeit und Kosten im Zusammenhang mit herkömmlichen Inspektions- und Fehlerklassifizierungstechniken erheblich und bietet Anwendern Vertrauen in ihre Produktqualität. Das System verfügt über ein einzigartiges korrelatives optisches Mikroskop, CropScan™, das automatisches Die-by-die-Scrollen und die branchenweit beste Fähigkeit zur Bildvergrößerung mit geringer Vergrößerung kombiniert, um Fehler schnell und präzise innerhalb derselben Ansicht zu klassifizieren, die für automatische Inspektionen verwendet wird. Das Gerät nutzt auch die fortschrittliche GVision™ Bildaufnahme- und Analysemaschine, um Fehler zu erkennen und als kritisch, unkritisch oder fehlerfrei einzustufen, um Produktsicherheit auf allen Stufen des Halbleiterprozessflusses zu gewährleisten. TENCOR Archer 100 ermöglicht es Benutzern, detaillierte Stempelbilder von bis zu 8 "-Wafern mit bis zu 32K-Auflösung zu erfassen, wodurch Defekte bis auf wenige Mikrometer hochauflösend identifiziert werden können. Die automatisierte Musteranpassung ermöglicht es dem Werkzeug, auch den kleinsten und schwächsten Defekt zu identifizieren und zu markieren sowie Masken/Wafer basierend auf vom Benutzer festgelegten Kriterien automatisch abzulehnen oder zu akzeptieren. Um eine einfache und intuitive Bedienung zu gewährleisten, verfügt Archer 100 über eine Touch-basierte grafische Benutzeroberfläche, mit der Benutzer das Asset leicht steuern und neue Rezepte schnell entwerfen können. Die Software umfasst außerdem leistungsstarke Funktionen für das Datenmanagement und die Erstellung von Berichten, um die Rückverfolgbarkeit und Wiederholbarkeit von Fabrikationen sicherzustellen. KLA/TENCOR Archer 100 kann in einen bestehenden Workflow integriert werden und ist kompatibel mit einer Reihe von Halbleiterherstellungs- und Messtechnikinstrumenten und bietet Anwendern ein stetig wachsendes Lösungsökosystem für die Halbleiterindustrie. Mit seiner geringen Ausfallrate und dem einfachen Installationsprozess wurde dieses Modell entwickelt, um Anwendern eine zuverlässige und kostengünstige Lösung für die Masken- und Waferinspektion zu bieten.
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