Gebraucht KLA / TENCOR Archer AIM MPX #9016583 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
Verkauft
ID: 9016583
Wafergröße: 12"
Advanced optical overlay metrology system, 12"
Install Type: Stand-Alone
Brooks Pre-Aligner
Mini-Environment w/HEPA Filter
MPX Focus/Exposure Option (PN: 0047028-000)
300mm Reflective Host Chuck (PN: 0022143-002)
Coherence Probe Interface Microscope
Measures BIB & AIM Grating Targets
Y2K Ready
Automatic Arrayed Target Measurement SW
Cassette Interface:
(2) Asyst IsoPort 300mm Load-ports
PN: 9700-9129-01 rev J
Robot Handler: Brooks
3-Axis, Single Arm, Single Blade
Software:
Win NT OS
Archer AIM Starter Kit w/ RDM Server Upgrade
User Interface:
Monitor: Viewsonic VG181 LCD 19”
3.5” (1.44MB) Floppy Drive
Mitsubishi P91D Thermal Printer
Yamaha CD-R/W Drive
SSD Back-up Drive (DAT)
Keyboard/Mouse/Trackball
Currently crated and stored in a warehouse.
KLA/TENCOR Archer AIM MPX ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die auf die Bedürfnisse mikroelektronischer Hersteller zugeschnitten ist. Dieses System ist in der Lage, hochauflösende Bilder zur Erkennung und Analyse einer Vielzahl von Defekten an Masken und Wafern bereitzustellen. KLA Archer AIM MPX wurde entwickelt, um ein hohes Maß an Ausbeute Optimierung und Lieferung von genauen Fehlerbildern zu gewährleisten. Es verbindet ein Kompaktdesign mit einer fortgeschrittenen, schnelllaufenden Bildaufbereitungsarchitektur, die Verbesserungen im Schaudurchfluss liefert. Das Herzstück des Geräts ist eine Vollfarbe, High Resolution Imager (HRI) und erweiterte Optik, die höhere Auflösung Bilder und schnellere Analyse ermöglichen. TENCOR Archer AIM MPX ist in der Lage, Partikelfehler sowie Fertigungsfehler wie lokale Spannungsänderungen, überbrückte Tröpfchen und nicht unterstützte Funktionen zu erkennen und zu analysieren. Es ist auch in der Lage, auf Hochspannungsbereichen einer Maske oder eines Wafers zu zoomen, wodurch potenziell katastrophale Defekte erkannt werden können. Die Maschine bietet eine überlegene Kontrastempfindlichkeit für verbesserte Fehlererkennung und -analyse. Archer AIM MPX enthält auch ein Thermal Control & Stability Tool (T-C & S), das präzise, wiederholbare Temperaturen während der Waferinspektion für eine verbesserte Fehlererkennungsleistung beibehält. Dieses Asset ermöglicht eine minimale Produktvariation von Los zu Los und bietet eine verbesserte Erkennungsgenauigkeit für kontrastarme und hochempfindliche Fehlertypen. KLA/TENCOR Archer AIM MPX bietet eine Reihe von anwenderwählbaren Bildgebungsmodi, so dass es sehr vielseitig ist und Benutzer das Modell auf ihre spezifischen Bedürfnisse anpassen können. Beispiele für die bildgebenden Modi sind Low Contour Scan, Low Contrast SLF, High Resolution SLF und Low Contrast Edge Enhanced. KLA Archer AIM MPX beinhaltet auch softwarebasierte AutoSensibilisierung zur automatisierten Helligkeits- und Kontrastauswahl, die den Einrichtungsprozess des Benutzers vereinfacht und die Anzahl der Interaktionen des Benutzers mit dem Gerät reduziert. Darüber hinaus ist das System in der Lage, Datenexportformate wie ASCII, BMP, TIFF, PDF und JPEG für eine schnelle und einfache Berichterstattung zu erstellen. Als High-End-Systeme ist TENCOR Archer AIM MPX in der Lage, Fehlerbilder schnell und präzise zu erzeugen, wodurch Hersteller Erträge optimieren, Kosten senken und die Produktqualität verbessern können. Dieses Gerät eignet sich ideal für eine Vielzahl von Produktionsumgebungen und bietet die Möglichkeit zur Hochgeschwindigkeitsbildgebung und zuverlässigen Fehlererkennung.
Es liegen noch keine Bewertungen vor