Gebraucht KLA / TENCOR Archer AIM MPX #9239066 zu verkaufen

KLA / TENCOR Archer AIM MPX
ID: 9239066
Overlay inspection system.
KLA/TENCOR Archer AIM MPX ist ein Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das für die fortschrittliche Messtechnik und das Ertragsmanagement im Halbleiterherstellungsprozess entwickelt wurde. Es verwendet bildbasierte Technologie, um die Qualität kritischer Merkmalsmessungen auf Waferoberflächen zu bestimmen, wodurch Hersteller schneller und genauer höhere Leistung, zuverlässigere Wafergeräte erstellen können. Im Mittelpunkt von KLA Archer AIM MPX steht die proprietäre Multi-Dimensional Visualization Technology (MDVT), die es dem System ermöglicht, kleinste Unvollkommenheiten zu erkennen und zu identifizieren, die sonst in herkömmlichen bildgebenden Systemen unsichtbar sind. Durch die Kombination eines High-End-Bildvektorprozessors, eines fortschrittlichen Beleuchtungssystems und patentierter optischer Komponenten kann TENCOR Archer AIM MPX bis zu 46 Bilder pro Sekunde in hoher Auflösung aufnehmen. Es verwendet mehrere unabhängige Bildgebungskanäle, so dass es schnelle Inspektion und Scannen auf einem einzelnen Wafer oder mehreren Wafern gleichzeitig durchführen kann. Diese Parallelität ermöglicht Archer AIM MPX, Funktionen auf gesamten Waferoberflächen innerhalb von Sekunden zu messen und zu inspizieren, ohne Artefakte in das Bild einzuführen. Darüber hinaus ermöglicht das selbstdockende Design ein einfaches und schnelles Be- und Entladen von Wafern, wodurch Hersteller den Inspektionsprozess schnell optimieren können. KLA/TENCOR Archer AIM MPX wurde entwickelt, um höchste Präzision und Genauigkeit zu erreichen, mit seiner Fähigkeit, Funktionen bis zu 50nm zu analysieren und Fehler bei 1mil Positionsgenauigkeit zu erkennen. Darüber hinaus bietet es eine automatisierte Fehlerklassifizierung und ausgeklügelte, falsch positive Erkennungsfunktionen, die es ermöglichen, echte Fehler zu identifizieren, aber falsche positive Effekte zu reduzieren. Darüber hinaus bietet die KLA Software Suite, die KLA Archer AIM MPX begleitet, leistungsstarke Analyse- und Datenvisualisierungstools, die eine verbesserte Datenanalyse zur Prozessoptimierung und Automatisierung der Ertragsanalyse ermöglichen. Als Ergebnis ermöglicht TENCOR Archer AIM MPX eine schnelle Retikel- und Photomasken-Inspektion und Messtechnik auf Waferebene, die einen beispiellosen Einblick in Produktionserträge und Fertigungskosteneinsparungen bietet.
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