Gebraucht KLA / TENCOR Archer AIM+ #9109277 zu verkaufen

KLA/TENCOR Archer AIM + ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für die moderne Halbleiterindustrie. Dieses automatisierte System bietet Inspektions- und Prüfwerkzeuge für kritische Photomasken- und Retikel-Anwendungen. KLA Archer AIM + ermöglicht die Erkennung von Defekten sowohl in der Prozessentwicklung als auch in der Produktion kritischer Schichten. TENCOR Archer AIM + wurde entwickelt, um maximale Prüfgenauigkeit und Kosteneinsparungen zu bieten. Es verwendet mehrere Technologien, einschließlich Mikroskopbildgebung, Lichtstreuung und polarisierte Lichtbildgebung, um Defekte zu erkennen, ohne dass eine aufwendige manuelle Probenvorbereitung erforderlich ist. Archer AIM + verwendet auch proprietäre Algorithmen und erweiterte Mustererkennung, um subtile geometrische und photomaske Defekte zu erkennen. Seine Fähigkeit, Defekte im Flugzeug zu erkennen und zu charakterisieren, reduziert die Vorbereitungs- und Inspektionszeiten weiter. Darüber hinaus bietet KLA/TENCOR Archer AIM + ein umfassendes Spektrum an Überprüfungsfunktionen. Dazu gehören Musteranalyse und -verfolgung, Fehlererkennung und -überprüfung sowie Tracking und Analyse. Die erweiterte Musterbibliothek der Einheit ermöglicht den Vergleich mit branchenüblichen Mustern sowie benutzerdefinierten Mustern, die vom Benutzer definiert werden. Darüber hinaus bietet KLA Archer AIM + mehrere Anmerkungs- und Overlay-Optionen zur Unterstützung des Überprüfungsprozesses. Neben seinen robusten Fehlererkennungs- und Überprüfungsfunktionen bietet TENCOR Archer AIM + auch eine automatisierte Fehlerinspektion, Fehlerclustererkennung und -berichterstattung. Die flexible, modulare Plattform bietet Skalierbarkeit für die Inline- und Off-Line-Integration und ermöglicht eine Vielzahl von Anwendungen und Prozessen. Mit einem umfangreichen Angebot an Software- und Hardwareoptionen eignet sich Archer AIM + für ein breites Spektrum an Anwendungen zur Fotomasken- und Retikelinspektion. KLA/TENCOR Archer AIM + ist eine automatisierte, kostengünstige Lösung zur Erkennung und Überprüfung von Photomasken- und Netzfehlern. Die Maschine bietet robuste Fehlererkennungs- und Überprüfungsfunktionen sowie automatisierte Fehlerinspektionen, Clusteranalysen und Reporting. Umfassende Musterbibliotheken und Anmerkungsfunktionen helfen Benutzern, Fehler schnell und genau zu erkennen und zu charakterisieren. Darüber hinaus bietet KLA Archer AIM + eine skalierbare Plattform für die Prozessintegration und ist damit eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Produktionsumgebungen.