Gebraucht KLA / TENCOR Archer AIM+ #9198841 zu verkaufen

KLA/TENCOR Archer AIM + ist eine umfassende Inspektionsausrüstung zur automatisierten und zuverlässigen Hochgeschwindigkeitserkennung von Defekten in HAR-Masken, Wafern und anderen flachen Objekten. Mit seinem fortschrittlichen optischen Inspektionssystem bietet es Kunden eine breite Palette von Funktionalitäten, von der Inspektion auf Oberflächen- und 3D-Defekte sowie Dual-Side-Defekt-und Paket-Feature-Inspektion, so dass eine schnelle und genaue Prüfung von HAR-Technologien. Das Gerät ist für den Hochdurchsatzbetrieb ausgelegt und kann in relativ kurzer Zeit eine große Fläche abtasten. Es verfügt über zwei Köpfe, die sowohl UV- als auch sichtbare Lichtquellen und zwei Kameras mit jeweils einer Abrollmaschine und einem „Dunkelfeld“ -Messobjektiv aufnehmen können. Das Tool enthält auch einen hochauflösenden Bildgebungssensor und bis zu vier optionale Optik, um spezifische Kundenanforderungen zu erfüllen. KLA Archer AIM + wird von integrierten Such- und Erkennungsalgorithmen unterstützt, die auf alle Arten von Defekten oder Verpackungsfunktionen wie Wafer-Line-Edge-Defekte, Packungsverzug und Mikro-Bend, Wafer-Mikro-Risse, Verfärbungen und Linienbreite sowie Mikrobrüche zugeschränkt werden können. Das automatisierte Erkennungsmodell für Fehler- und Paketfunktionen des Asset kann eine breite Palette von Oberflächen, Formen und Größen erkennen und ist damit eine ideale Lösung für anspruchsvolle Anforderungen an die Masken- und Waferinspektion. TENCOR Archer AIM + Equipment ist auch mit einem 3D 'Stack Viewer' ausgestattet, mit dem Kunden Fehler, Paketfunktionen und vieles mehr weiter analysieren und identifizieren können. Darüber hinaus verfügt das System über ein „Arbeitszyklus“ -Merkmal, das den Durchsatz erhöht und die Prüfzykluszeiten reduziert. Schließlich bietet das Gerät eine erweiterte Datenerfassungs- und Analysemaschine, die Kunden detaillierte Fehler- und Paketfunktionsdaten bereitstellt. Zusammenfassend ist Archer AIM + ein automatisiertes und zuverlässiges Werkzeug zur Inspektion von Fehler- und Verpackungsfunktionen, das sich ideal für anspruchsvolle Anforderungen an die Masken- und Waferinspektion eignet. Das Asset ist mit fortschrittlichen optischen, bildgebenden und Erkennungstechnologien sowie leistungsstarken Analyse- und Datenlogging-Tools ausgestattet, die Kunden detaillierte Fehler- und Paketfunktionsdaten bieten. Das Modell ist ein wertvolles Gut für jeden Hochgeschwindigkeits-Inspektionsprozess mit hohem Durchsatz.