Gebraucht KLA / TENCOR Archer AIM+ #9202700 zu verkaufen

KLA/TENCOR Archer AIM + ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die von Halbleiterherstellern verwendet wird, um die Qualität und Genauigkeit des Produktionsprozesses zu gewährleisten. Das System verwendet fortgeschrittene bildgebende und analytische Algorithmen, um Fehler auf der Maske, dem Wafer und den Prozessschichten eines Halbleiterbauelements zu erkennen. Die Einheit KLA Archer AIM + basiert auf fünf separaten Komponenten: PixelTRAK 1000, SiliconVision XR, ProcessVerify, GEMIN3 und IMAGE. Jede Komponente verfügt über einzigartige Funktionen, um den Masken- und Wafer-Inspektionsprozess zu optimieren und genaue Ergebnisse zu liefern. PixelTRAK 1000 ist eine Bilderfassungsmaschine, die die Leistungslücke zwischen manuellen und automatisierten Inspektionsprozessen überbrücken kann. Das Werkzeug enthält eine CCD-Kamera, um hochauflösende Bilder der Maske oder des Wafers zu erfassen, die von einem Flachbildschirm, einem Rollenboden oder einem Halbleiterträger in das Gerät eingespeist werden. Die Bilder können für alle möglichen Mängel und Kombinationen von Inspektionen wie Fehlererkennung, Kamerawinkel und Bildfensterung modifiziert und referenziert werden. SiliconVision XR ist ein leistungsfähiges Bildanalysetool, das detailliertere und präzisere Informationen über Defekte an der Maske oder dem Wafer generiert. Die Plattform nutzt Mustererkennungsalgorithmen, 3D-Bildgebung und maschinelle Lerntechnologie, um Oberflächen-, Chip- und Gerätedefekte effizient zu identifizieren. ProcessVerify ist eine integrierte Prüfplattform, die die Produktivität steigern und die Betriebskosten senken soll. Die Technologie ermöglicht es Unternehmen, alle Änderungen, die während des Inspektionsprozesses auftreten, zu verfolgen, einschließlich Fehlerstandorte, Fehlerklassifizierungen und automatisierte Aktionen. GEMIN 3 ist ein Messmodell zur Messung und Analyse der Oberflächenform von erweiterten Merkmalen in verschiedenen Phasen des Fertigungs- und Prüfprozesses. Das Gerät ist in der Lage, Objekte mit einem Tiefenbereich von bis zu 5m und einem Sichtfeld von bis zu 10,7mm zu messen. Schließlich bietet IMAGE automatisierte Fehlerinspektionen und Klassifizierungsmöglichkeiten, mit denen die Qualität der Produkte gewährleistet werden kann. Das System ist mit spezialisierten Algorithmen ausgestattet, um Muster, Falten, Risse, Staub und andere Arten von Unregelmäßigkeiten zu identifizieren. Mit Hilfe von Künstlicher Intelligenz kann die Einheit detaillierte Analysen und detaillierte Fehlerdaten bereitstellen. TENCOR Archer AIM + Kit ist eine leistungsstarke und einfach zu bedienende Maschine zur Masken- und Waferinspektion. Es bietet eine Vielzahl von Funktionen zur Fehlererkennung, Bildanalyse und Prozesssteuerung und ist damit eine ideale Wahl für Halbleiterhersteller.