Gebraucht KLA / TENCOR Archer AIM+ #9237846 zu verkaufen

KLA/TENCOR Archer AIM + ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die den Prozess der Identifizierung, Überprüfung und Validierung von Fehlerdaten in der Halbleiterindustrie rationalisieren soll. Das System ist eine umfassende Lösung, die leistungsstarke Software und Hardware von UCK verwendet. Es verwendet eine Kombination von Inspektionstechnologien, einschließlich hochauflösender Wafer-Bildgebung, automatisierter Mustererkennung und 3D-Fehleranalyse, um schnelle, präzise und wiederholbare Ergebnisse zu liefern. Die Einheit besteht aus einer Haupteinheit und einem Mikroskop. Die Haupteinheit beherbergt den Laserscanner, den Wafer-Handler, den optischen Projektor, den Bildverarbeitungsprozessor und die Fehlerprüfmaschine. Das Mikroskop, das mit der Haupteinheit verbunden ist, ist ein hochauflösendes digitales Abbildungswerkzeug, das detaillierte Bilder von Merkmalen auf der Waferoberfläche bei verschiedenen Vergrößerungen liefert. KLA Archer AIM + nutzt eine Kombination aus Fehlerüberprüfungssoftware und Hardware-Peripheriegeräten, um Fehler zu erkennen und zu analysieren. Fehler werden in Echtzeit erfasst und verarbeitet, wobei hochauflösende Bildgebungs- und modernste automatisierte Fehleranalysetechnologien verwendet werden. Durch eine Kombination aus Mustererkennung und 3D-Analysealgorithmen identifiziert, zählt und klassifiziert das Asset Fehlertypen auf dem Wafer genau. Das Modell umfasst eine intuitive Benutzeroberfläche zur Überprüfung und Validierung von Fehlern sowie zur Anpassung des Fehlerfilters und zur Einrichtung einer automatischen Fehlerprüfung. Das Gerät umfasst auch eine Reihe von vordefinierten Tools zur Ertrags-, Fehler- und Zuverlässigkeitsanalyse, um die Ergebnisse auf Ertrags-, Fehlerwerte und andere wichtige Kennzahlen zu analysieren. Diese Werkzeuge liefern wertvolle Einblicke in den Herstellungsprozess, um die Produktqualität und den Ertrag im Laufe der Zeit zu verbessern. TENCOR Archer AIM + System ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Verbesserung der Produktqualität in der Halbleiterindustrie. Es liefert schnelle, präzise und wiederholbare Ergebnisse und bietet eine Reihe von Tools, um eine effektive Fehlerüberprüfung und Ertragsanalyse zu ermöglichen. Das Gerät ist eine hochautomatisierte und zuverlässige Lösung für die Masken- und Waferinspektion und lässt sich problemlos in bestehende SEMIConductor Prozesse und Systeme integrieren.