Gebraucht KLA / TENCOR Archer AIM #9293250 zu verkaufen

KLA / TENCOR Archer AIM
ID: 9293250
Overlay measurement system.
KLA/TENCOR Archer AIM ist eine automatisierte Inline-Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die eine hohe Leistung für Ertragsmanagement, Fehlerdispositionierung und Gerätequalifizierung bietet. Das System verfügt über einen Inspektionskopf mit einem 4k-Pixeldetektor-Array, das eine hochauflösende Inspektion zur Erkennung kleiner Fehler ermöglicht. Die optische Einheit wird mit leistungsstarken Bildverarbeitungs- und Fehlererkennungsalgorithmen kombiniert, um die höchste Fehlererkennungsgenauigkeit zu gewährleisten. Die Maschine umfasst einen einzigartigen automatischen Optimierungsprozess, mit dem Benutzer das Tool für ihre spezifischen Anwendungen anpassen und die Erkennungsempfindlichkeit verbessern können. Darüber hinaus unterstützt das Asset sowohl die automatische als auch die manuelle Fehlerüberprüfung und bietet eine umfassende und umfassende Lösung. Das Modell ist auch mit einer Fehlerüberprüfungsstation ausgestattet, so dass Benutzer Fehler schnell und einfach erkennen und klassifizieren können. Das kostenlose erweiterte Softwarepaket bietet eine virtuelle Überprüfung, mit der Benutzer die Originalgerätedaten mit den Ergebnissen des Inspektionsprozesses vergleichen können. Die Software bietet auch eine Fehlerklassifizierungsbibliothek, die es Benutzern ermöglicht, eine benutzerdefinierte Fehlerliste zu entwickeln und zu speichern, die für ihren spezifischen Prozess geeignet ist. Die Ausrüstung gewährleistet eine schnelle und genaue Fehlererkennung durch die Integration verschiedener fortgeschrittener Inspektions- und Fehlererkennungstechniken. Das System verwendet ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit fortschrittlichen automatisierten Messfunktionen, die eine schnelle und genaue Fehlergröße und Fehlerortserkennung ermöglichen. Es enthält auch eine CD-SEM-Maschine, die auf der CCD-Technologie (Charge-Coupled Device) für höherauflösende Bilder basiert. Das CD-SEM-Tool ist in ein hochauflösendes 3D-Stereomikroskop für Defektklassifizierungsanwendungen integriert. Darüber hinaus kann die Anlage mit einer Vielzahl fortschrittlicher Messtechnik zur Fehlerklassifizierung integriert werden. Das Modell umfasst ein geräteweites Sicherheitsnetzwerk, bestehend aus sicheren Parametern, Authentifizierungsmechanismen und einem umfassenden Systemprotokoll, das den höchsten Schutz der Qualitätsanforderungen gewährleistet. Die Einheit ermöglicht es Benutzern auch, auf Überprüfungs- und Analysetools aus der Ferne zuzugreifen und Benutzern die Möglichkeit zu bieten, Probleme schnell zu besprechen und zu überprüfen. Schließlich wurde die Maschine entwickelt, um die Prozesseffizienz zu verbessern, den Durchsatz zu erhöhen und falsche Ausschüsse zu reduzieren. Das Tool liefert Anwendern hochempfindliche und genaue Inspektionsergebnisse sowie verkürzte Erkennungszeiten. Das Asset erstellt auch detaillierte Fehlerberichtszusammenfassungen direkt an Prozessingenieure und Operatoren, wodurch der Prüfprozess vereinfacht wird. All diese Eigenschaften und Vorteile machen KLA Archer AIM zu einem idealen Masken- und Wafer-Inspektionsmodell.
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