Gebraucht KLA / TENCOR CRS 2000 #293595655 zu verkaufen

KLA/TENCOR CRS 2000 ist eine Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung entworfen, um m jede Art von Mängeln zu erkennen. Es funktioniert durch die Verwendung von Hellfeld und Dunkelfeldbeleuchtung in 4 getrennten Winkeln, um eine vollständige Ansicht der gesamten Oberfläche eines Wafers oder einer Maske zu ermöglichen. Das System speichert dann Bilder jedes Fehlers und liefert detaillierte Informationen über die genaue Größe, Art und Lage jedes Fehlers. Darüber hinaus kann die KLA CRS 2000 detaillierte Berichte über Anzahl und Größe jedes gefundenen Defekts liefern und Verunreinigungen in Proben erkennen. TENCOR CRS 2000 bietet verschiedene aufgabenspezifische Betrachtungsmodi mit der Fähigkeit, Parameter anzupassen. Dazu gehören die Modi Brightfield und Darkfield, wobei beide Modi zur Erkennung der Oberflächentopographie verwendet werden können. Submikron-Fehlererkennung wird durch einen speziellen Zoom-Modus ermöglicht, der auf Auflösungen von bis zu 5000x zoomen kann. CRS 2000 bietet auch fortschrittliche Algorithmen zur Identifizierung von Partikeln, Verunreinigungen und Kantendefekten. Darüber hinaus ermöglicht die automatisierte Abtastung und Inspektion eine schnelle Abtastung von bis zu 170 Wafern in weniger als einer Stunde. Für Anwender umfasst KLA/TENCOR CRS 2000 ein umfassendes Softwarepaket zur Steuerung der Maschine, Verarbeitung und Analyse von Daten sowie eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche für den Zugriff auf alle Funktionalitäten. Diese Schnittstelle umfasst Datenprotokollierung, Berichtsgenerierung, Alarmeinstellung und Maskeneditor. Die KLA CRS 2000 unterstützt auch die Datenübertragung von und zu anderen UCK-Systemen zur einfacheren Inspektion und Überprüfung. Alle Ergebnisse können in statistischen Tabellen dargestellt oder in ein Standard-ASCII-Format exportiert werden. Das erweiterte MultiTask-Softwarepaket des Tools bietet auch erweiterte Analysefunktionen wie Flächen-, Dichte-, Rauheits- und Steigungserkennung. Integrierte Algorithmen werden verwendet, um Fehler nach verschiedenen Kriterien zu sortieren und zu gruppieren und eine schnelle und genaue Bestimmung von Fehlerorten zu ermöglichen. Darüber hinaus kann diese Software auch umfassende Berichte einschließlich statistischer Zusammenfassungen und anderer detaillierter Informationen erstellen. TENCOR CRS 2000 ist ein ideales Werkzeug für Anwendungen, die detaillierte Messungen von Wafern und Masken erfordern. Es bietet eine genaue Erkennung von Defekten und Verunreinigungen aller Größen und Standorte sowie umfassende Berichts- und Analysefunktionen. Mit seiner benutzerfreundlichen Bedienoberfläche ist CRS 2000 eine zuverlässige und kostengünstige Masken- und Wafer-Inspektion.