Gebraucht KLA / TENCOR DFIMS Handler for SP1 #9262063 zu verkaufen

KLA/TENCOR DFIMS Handler für SP1 ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für die anspruchsvollsten Anforderungen an die modernsten Halbleitermaterialien und -prozesse von heute konzipiert wurde. Das System besteht aus vielen Technologien, die auf maximale Leistung in Bezug auf Fehlererkennung und -prävention ausgelegt sind. Es bietet automatisierte Masken- und Waferinspektion, Partikelerkennung und Fehlerbestätigungsfunktionen. Im Kern nutzt der KLA DFIMS Handler für SP1 eine Reihe leistungsstarker Bildverarbeitungs- und Mikroskopietechnologien, um Masken und Wafer auf Oberflächenfehler zu untersuchen. Es verwendet eine fortschrittliche optische Einheit, die mit einem tiefen ultravioletten Laser verbessert wird, um hochauflösende, großflächige Bildgebung, Musteranpassung, Fehleranalyse und statistische Dokumentation durchzuführen. Mit diesen Methoden kann die Maschine mit ihrer hochpräzisen Fehlerortungsfähigkeit sehr schnell und genau Fehler erkennen. Das Tool nutzt auch eine einzigartige Auto-Fokus-Funktion, die sicherstellt, dass Inspektionsbilder auf der optimalen Fokusebene für maximale Leistung der Inspektionsmöglichkeiten des Asset aufgenommen werden. Dies gewährleistet höchste Genauigkeit und kürzeste Inspektionszeit. Ein spezialisiertes Auto-Schwellenwert-Feature ist auch enthalten, das Partikel und andere kleine Defekte auf der Maske oder Waferoberfläche genau identifizieren kann. Neben der Bildverarbeitung verfügt TENCOR DFIMS Handler für SP1 auch über ein fortschrittliches Defektklassifizierungsmodell. Diese Geräte dienen der Echtzeitklassifizierung und Priorisierung von erkannten Fehlern in Bezug auf ihr Risikoniveau. Auf diese Weise kann das System die am besten geeignete Auflösung und Reaktion für jeden erkannten Fehler bestimmen. Es vereinfacht auch den Masken- und Wafer-Inspektionsprozess erheblich, indem es automatisch die am besten geeigneten Auflösungen für die erkannten Fehler ohne Benutzereingriff identifiziert. Insgesamt bietet DFIMS Handler für SP1 eine leistungsstarke, hochpräzise Lösung zur Inspektion von Masken und Wafern auf Oberflächenfehler. Es kombiniert fortschrittliche Bildverarbeitungstechnologien und spezialisierte Fehlerklassifizierungsfunktionen, um höchste Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Geschwindigkeit zu bieten. Als solches ist es eine gute Wahl für Halbleiterbauelementehersteller, die nach einer zuverlässigen, kostengünstigen und genauen Lösung für die Masken- und Waferinspektion suchen.