Gebraucht KLA / TENCOR eS32 #293829839 zu verkaufen

KLA/TENCOR eS32 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für Halbleiterhersteller, die ihre kritische Fehlererkennung steigern und ihre Gesamtausbeute verbessern möchten. Dieses Tool ist in der Lage, Sub-Pixel-Bildausrichtung und automatisierte Abtastung und Inspektion. KLA- eS32-System verwendet KLA-proprietäre InstrumentView-Software, um Festplattenlaufwerk und Thin-Film-Head-Disk-Hersteller zu identifizieren und zu helfen, ertragsbezogene Probleme zu lindern. Dieses Gerät verfügt über eine intelligente Scan-Technologie, die es dem Benutzer ermöglicht, die Daten zu „feinjustieren“ und Parameter im Handumdrehen anzupassen. TENCOR ES 32 Maschine bietet auch leistungsstarke Fehlererkennung und Klassifizierung Fähigkeiten, die Algorithmen auf den generierten Daten ausführen können, um eine detailliertere Analyse zu erstellen. KLA ES 32 verfügt über einen Bilddetektor und eine Mikroskopstufe mit einem Sichtfeld (FOV) von 20x10 mm Bereich und einer Auflösung von bis zu 3 µm. Diese FOV ermöglicht eine präzise Analyse jedes gedruckten Musters, so dass Benutzer potenzielle Fehler erkennen und entsprechende Maßnahmen ergreifen können. ES32 verfügt über eine Reihe automatisierter Funktionen, mit denen der Benutzer Informationen schnell scannen, speichern und analysieren kann. Dazu gehören automatisierte Ausrichtungs- und Zentrumsuchfunktionen, die die für das Scannen eines Wafers erforderliche Zeit verkürzen. Darüber hinaus umfasst das Asset eine automatisierte Berechnung von Kontrast und Helligkeit, wodurch die Gesamtzeit der Inspektion des Wafers weiter reduziert wird. KLA/TENCOR ES 32 verwendet Musteranalyse Toolkit Software und bietet drei vordefinierte Masken, OPC Analysis Toolkit, Advanced Mask Analysis (AMA), um feine Pulvererkennung, automatische Partikelinspektion (API), Staub- und Schmutzpartikel zu identifizieren, und Farbmustererkennung. Außerdem bietet ES 32 eine automatisierte Auswahl an Testwellenlängen, die es Anwendern ermöglicht, das Bild zu verfeinern, um eine präzisere Analyse aufzudecken. Benutzer können auch auf mehrere leistungsstarke Funktionen wie HD-Map-Verifizierung, Wafer Binning und Overlay-Analyse zugreifen. TENCOR eS32 Maske & Wafer Inspektionsmodell ist ein leistungsfähiges Werkzeug für Advanced Process Control (APC) und Ertragsverbesserung. Es bietet Anwendern die Möglichkeit, potenzielle Fehler schnell zu erkennen und zu identifizieren, um ihre Gesamtproduktivität und Effizienz zu verbessern. KLA/TENCOR eS32 wurde entwickelt, um die Qualität und Zuverlässigkeit der Leistung der Kunden zu verbessern und ihre Kosten zu senken, indem es ihnen ermöglicht, Ursachen von Produktionsfehlern schnell, genau und effektiv zu diagnostizieren.