Gebraucht KLA / TENCOR eS32 #9387246 zu verkaufen

ID: 9387246
Weinlese: 2006
Electron-Beam Defect Inspection (EBI) system Scan boards missing 2006 vintage.
KLA/TENCOR eS32 ist eine anspruchsvolle und technologisch fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektion (MWI) -Ausrüstung, die ein hochauflösendes Hochgeschwindigkeits-Inspektionssystem verwendet, um den Einheitendurchsatz und den Zeitaufwand pro Probe zu maximieren. Diese Maschine zeigt eine automatisierte geradlinige Fünf-Achsen-Motorbildaufbereitungsfähigkeit, die das automatisierte Beispielladen und die Optimierung ermöglicht, sicherstellend, dass alle Proben effizient und genau untersucht werden. Die automatisierte Probenkontrolle stellt sicher, dass Proben nicht falsch geladen oder falsch geladen werden können, was menschliche Fehler beseitigt und zu qualitativ hochwertigeren Prüfverfahren führt. KLA eS32 verfügt über erweiterte Verarbeitungsfunktionen, einschließlich leistungsfähiger Echtzeitanalyse und spezialisierter algorithmenbasierter Identifizierung von wahrgenommenen Defekten, die zur Erkennung von Oberflächen- und Untergrunddefekten in Halbleiterbauelementen und deren Eigenschaften verwendet werden können. Das MWI-Tool ist auch mit einer Vollfeldbeleuchtung ausgestattet, die detailliertere Informationen zu den geprüften Proben enthält. Das integrierte Beleuchtungsmodell arbeitet mit der automatisierten Prozessstufe und bietet eine gleichbleibende Präzision über eine Vielzahl verschiedener Gerätesubstrate. Darüber hinaus ist das Gerät auch in der Lage, ganze Wafer mit hoher Geschwindigkeit abzubilden, was Zeit und Aufwand spart und gleichzeitig ultrahochauflösende digitale Bilder für die Fehlerüberprüfung und -analyse bereitstellt. Das System ist auch mit fortschrittlichen Datenanalysetechnologien ausgestattet, die die Identifizierung bisher unbemerkter Merkmale sowie eine konsistente Fehlererkennung und -klassifizierung ermöglichen. Die überlegene Bildgebungsfähigkeit und die fortschrittliche Datenanalyse von TENCOR ES 32 sind Schlüsselkomponenten, um sicherzustellen, dass die Masken- und Waferinspektion präzise und präzise durchgeführt wird. Die Kombination aus automatisiertem Probenladen, ultrahochauflösender Bildgebung und fortschrittlicher Datenanalyse sorgt für maximalen Durchsatz und hervorragende Ergebnisse für Kunden. In Kombination mit seinen High-End-Komponenten, wie der ultrahochauflösenden Bildverarbeitungstechnologie und der integralen Beleuchtungseinheit, steht er an der Spitze der Branchenführer im Bereich MWI.
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