Gebraucht KLA / TENCOR eS37 #293673634 zu verkaufen
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ID: 293673634
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2011
Inspection system, 12"
Isolation pad
2011 vintage.
KLA/TENCOR eS37 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage für die Halbleiterverarbeitung. Es wurde entwickelt, um das höchste Maß an Leistung und Genauigkeit in der Branche zu erfüllen, so dass es ideal für fortgeschrittene Forschung und Entwicklung. Das System besteht aus einer Reihe von Komponenten, darunter eine hochauflösende HD-Bildgebungseinheit, eine automatisierte optische Inspektionsmaschine und eine fortschrittliche Analytik-Engine. Das hochauflösende HD-Bildgebungswerkzeug ist in der Lage, Bilder von Wafern, Masken, Matrizen und Retikeln mit einer Auflösung von bis zu 5,5 Mikrometern zu erfassen und zu analysieren. Es enthält auch mehrere Kameras zur Unterstützung der Beleuchtung mit hoher Intensität, die verwendet werden kann, um verschiedene Arten von Defekten zu überprüfen, wie offene Schaltungen und kurze Hosen. Die automatisierte optische Inspektion verfügt über hochmoderne Optik und ausgefeilte Algorithmen, um eine umfassende visuelle Analyse mit hoher Geschwindigkeit durchzuführen. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von möglichen Defekten zu identifizieren, einschließlich solcher, die für das menschliche Auge nicht sichtbar sind. Dieses Modell ermöglicht schnelle und genaue Ergebnisse, wodurch das Risiko kostspieliger Fehler durch langsame manuelle Inspektion reduziert wird. Darüber hinaus ist die fortschrittliche Analytics-Engine in der Lage, systematische Fehlertrends zu erkennen, die zur Optimierung des Produktionsprozesses verwendet werden können. Die Geräte wurden in die Software nach Branchenstandard integriert, wodurch die Anbindung an bestehende Systeme und Datenbanken einfach ist. KLA eS37 ist ein wertvolles Werkzeug, um die strengen Qualitätsstandards in der Halbleiterindustrie zu erfüllen. Seine leistungsstarken Komponenten bieten eine überlegene Fehlererkennungs- und Analyseleistung und sorgen für konsistente und zuverlässige Ergebnisse. Darüber hinaus ist die Integration fortschrittlicher Analysen von unschätzbarem Wert für die Verbesserung der Wafer- und Maskenerträge sowie die Steigerung der Produktionsgeschwindigkeit und Effizienz.
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