Gebraucht KLA / TENCOR / ICOS CI-T120 #293794311 zu verkaufen

KLA/TENCOR/ICOS CI-T120 ist eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die zur Verbesserung des Fehlermanagements und der Ertragsleistung in der Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Das System verfügt über eine hochauflösende optische Stufe zur Tiefenbildung von Defekten, die in der Lage ist, einen gesamten Wafer in nur 60 Sekunden abzutasten. Gleichzeitig ist das Gerät mit automatisierten Fehlerklassifizierungsalgorithmen ausgestattet, um Fehler bei minimalem Benutzereingriff schnell und genau zu identifizieren und zu quantifizieren. Darüber hinaus ist die KLA CI T120 mit einer In-situ-Kalibriermaschine ausgestattet, um eine optimale Leistung und Ergebnisse zu gewährleisten, die es dem Anwender ermöglicht, die Empfindlichkeit des Werkzeugs im Flugzeug an die sich ändernden Prozessbedingungen anzupassen. Die Kombination der Funktionen in ICOS CI T 120 hat es zu einem leistungsfähigen Tool für fortgeschrittene und routinemäßige Bildgebungsanwendungen gemacht. Die ausgeklügelten Algorithmen des Asset ermöglichen erweiterte Funktionen wie Bonding Pad und Eckenidentifikation, deren Ergebnisse für die weitere Extraktion von Funktionen verwendet werden. Diese erweiterte Ebene der Bildgebung ist auch vorteilhaft für Routineanwendungen wie Musterübereinstimmungsanalyse und Linienbreitenmessungen. Die Software-Oberfläche von ICOS CI-T120 ist sehr intuitiv und einfach, auch für unerfahrene Anwender. Die intuitive Menühierarchie ermöglicht eine einfache Navigation in die vielen Funktionen der Software, während die erweiterten Fehlerklassifizierungsalgorithmen und das In-situ-Kalibriermodell eine komplizierte Kontrolle über den Inspektionsprozess ermöglichen. Insgesamt ist CI T120 Mask & Wafer Inspection Equipment eine ideale Lösung für Halbleiterhersteller, die fortschrittliche bildgebende Anwendungen und automatisierte Fehlerklassifizierung benötigen. Die ausgeklügelten Algorithmen und die intuitive Benutzeroberfläche machen es zu einem leistungsstarken Tool sowohl für fortgeschrittene als auch für Routineanwendungen, das Anwendern die Möglichkeit bietet, Fehler mit minimalem Eingriff des Bedieners schnell und genau zu identifizieren und zu quantifizieren.