Gebraucht KLA / TENCOR / ICOS CI-T130 #9389311 zu verkaufen

KLA/TENCOR/ICOS CI-T130 ist eine Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung entwickelt, um hohe Leistung und Genauigkeit für die Inspektion der kritischen Musterelemente auf fortgeschrittenen Halbleiterscheiben zu liefern. Das System bietet überlegene optische Bildqualität und Auflösung, um eine umfassende Fehlerinspektion zu ermöglichen. Es ist mit zwei Wafer-Slots ausgestattet, einem für die Bildgebung und einem für die Musterüberprüfung sowie hochpräzisen Bildvor- und Nachbearbeitungsfunktionen, um konsistente Fehlererkennungs- und Klassifizierungsergebnisse zu gewährleisten. KLA CI-T130 ist eine fortschrittliche und vielseitige Einheit, die für hohe Geschwindigkeit und genaue Fehlerüberprüfung entwickelt wurde. Es ist mit einer hochauflösenden CCD-Kamera ausgestattet, die auf spezifische bildgebende Anforderungen zugeschnitten werden kann. Mit einer breiten Palette von Optik zur Verfügung, ist es in der Lage, eine Vielzahl von Bildgebungstechniken wie Mikro-Defekt-Erfassung, Weitbereichserfassung, ultra-hochauflösende Bilder und Querschnittsbilder durchführen. Die Maschine enthält auch zwei Videokanäle zur Anzeige auf einem Monitor oder auf einem automatisierten Bildanalysetool. Das Asset ist für eine einfache Bedienung konzipiert und bietet eine intuitive Benutzeroberfläche, um die Rüstzeit zu reduzieren und die Leistung und Genauigkeit zu optimieren. Der Benutzer hat die Möglichkeit, das Modell schnell für eine erweiterte Fehlerinspektion zu konfigurieren und über ein interaktives grafisches Menü zu überprüfen. Optionale Softwarebibliotheken können die Erkennung spezifischer Fehlerklassen optimieren, z. B. Leitungsfehler, Partikelfehler, fehlerhafte Prozesse, Dichtestufen und Geometrieänderungen. Erweiterte Verarbeitungsalgorithmen können verwendet werden, um falsche Ergebnisse zu reduzieren und das Erkennungsvertrauen zu verbessern. ICOS CI-T130 verfügt über eine breite Palette optionaler Online-Funktionen zur Unterstützung kompletter Inspektionsanwendungen. Diese Funktionen umfassen Maskenregistrierung, Wafer-Mapping, in-situ präventive Wartung, Prozesskompensation und Wafer-Tracking. Es enthält auch ein optionales Hochleistungs-Bildverarbeitungspaket, das die Datenerfassung verbessert. Insgesamt ist TENCOR CI-T130 eine hochqualitative Ausrüstung für die Masken- und Waferinspektion. Seine fortschrittlichen Funktionen, leistungsstarken Optiksysteme und ausgeklügelten Algorithmen stellen die neuesten technologischen Innovationen dar und schaffen eine ideale Plattform für Hersteller und Testingenieure. Die Flexibilität, Benutzerfreundlichkeit und Genauigkeit des Systems ermöglichen es, als Eckpfeiler einer kompletten Halbleiterinspektionslösung zu dienen.