Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 2138 XP #9153008 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX 2138 XP ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur Inspektion kritischer Musterdefekte an Photomasken und Wafern. Das System nutzt fortschrittliche Elektronenstrahl (E-Strahl) -Inspektionstechnologie, um Bilder eines Geräts zu analysieren und etwaige Fehler auf einer Nanometerskala zu identifizieren. Die Einheit kann fehlende Leitungen, Kurzschlüsse, offene Schaltungen, Hinterschnittmerkmale und Leitungsbreite erros unter anderem mögliche Fehler erkennen. KLA 2138 XP besteht aus drei Hauptkomponenten: E-Beam Device, Imaging und Analytics. Die E-Beam-Vorrichtung ist dafür zuständig, die Oberfläche der Vorrichtung abzutasten und Bilder ihrer Oberfläche zu erzeugen. Die bildgebende Maschine nimmt dann diese E-Strahl-Bilder auf und verarbeitet sie mit einem fortgeschrittenen Algorithmus, um etwaige Defekte am Gerät zu identifizieren und zu analysieren. Das Analysetool nimmt dann die Analyseergebnisse und wendet eine Vielzahl fortgeschrittener Algorithmen an, um den Ort, die Größe und die Kategorie der Fehler zu bestimmen. Alle diese Analysen werden in Echtzeit durchgeführt, um sicherzustellen, dass mögliche Fehler genau erkannt und analysiert werden. TENCOR 2138 XP verwendet einen großen hochpräzisen E-Strahl, um das Gerät in mehreren verschiedenen Winkeln und Abständen zu scannen, um eine vollständige Abdeckung zu gewährleisten. Dies ermöglicht genauere Bilder, die dann mit fortschrittlichen Algorithmen auf Fehler analysiert werden. Es kann Oberflächen bis zu 0,2 Mikrometer scannen und sicherstellen, dass alle möglichen Fehler erkannt und analysiert werden. Das bildgebende Element verwendet dann seine hochauflösenden Kameras, um Bilder des Geräts zu erfassen und diese Bilder in nützliche Datenpunkte umzuwandeln. Das Analysemodell nimmt dann diese Datenpunkte und wendet eine Vielzahl von Algorithmen an, um die Größe und den Standort der gefundenen Fehler zu bestimmen. Es kann auch überlappende Bereiche erkennen und unterscheiden, was eine bessere Genauigkeit bei der Identifizierung von Fehlern ermöglicht. Die Analyseausrüstung ermöglicht es dem Benutzer auch, benutzerdefinierte Parameter wie Fehlergröße und -form einzurichten, um bessere und genauere Ergebnisse zu erzielen. PROMETRIX 2138 XP ist ein zuverlässiges, effizientes und präzises Masken- und Wafer-Inspektionssystem. Es verwendet fortschrittliche E-Strahl-Inspektionstechnologie und eine ausgeklügelte Analyseeinheit, um eine genaue Fehleranalyse und -erkennung zu gewährleisten. Seine erweiterten Analysefähigkeiten machen es in der Lage, zuverlässige Ergebnisse zu produzieren, auch auf extrem kleinen Oberflächen, und seine benutzerfreundliche Oberfläche macht es einfach zu bedienen. Schließlich ermöglicht der modulare Aufbau den Anwendern, die Maschine einfach für bestimmte Anwendungen zu aktualisieren und anzupassen.