Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX Candela CS920 #9269026 zu verkaufen

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ID: 9269026
Weinlese: 2016
Optical surface analyzer SiC/SiC (EPI Layer) 2016 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Candela CS920 ist eine leistungsstarke integrierte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Plattform, die für die Produktion von Hochvolumenhalbleitern entwickelt wurde. Die Plattform bietet eine komplette Palette von Test- und Messdiensten für die Waferfertigung, von einer einstufigen Messtechnik bis hin zu Wafertests auf Systemebene. Die Plattform umfasst fortschrittliche optische und mikroelektromechanische (MEMS) Technologien, die eine hochgenaue berührungslose 3D-Abbildung der Oberflächentopographie des Wafers ermöglichen. Dies wird durch eine Vielzahl von bildgebenden Softwareoptionen unterstützt, mit denen Benutzer Daten punktgenau erfassen, verarbeiten und analysieren können. Die Plattform eignet sich ideal zur Messung kritischer Abmessungen (CDs), zur Isolierung von Defekten und zur Durchführung von parametrischen Tests. Die Prüf- und Messfähigkeiten der Plattform umfassen Widerstandstests, Leckagemessungen, Oberflächencharakterisierung, elektrische Kondensator- und Widerstandstests, akustische Messungen, Fehleranalysen, Stempelvergleich, isolierte Fehlererkennung und Rauheitsmessungen. Die Plattform verfügt über eine leistungsstarke, erweiterbare Architektur, die robuste Leistung und zuverlässige Verarbeitungsfunktionen für eine Vielzahl von Wafertest- und Metrologieanwendungen bietet. Es kommt mit einer breiten Palette von Anpassungsoptionen, so dass Benutzer die Plattform auf ihre individuellen Bedürfnisse zugeschnitten. Darüber hinaus unterstützt die Plattform volle Automatisierungsfunktionen mit einem vollständig integrierten Robotiksystem, mit dem bis zu 40 Geräte gleichzeitig genau getestet werden können. Die Plattform nutzt die neuesten Technologien in den Bereichen Datenverarbeitung, Bild- und Signalanalyse und ermöglicht es Anwendern, umfassende Wafer-Testberichte und -analysen in Echtzeit zu erstellen. Dies beinhaltet die Möglichkeit der Schnittstelle mit einer Vielzahl von Datenbanken, so dass Benutzer auf ein einziges, umfassendes Testergebnis-Repository für die Datenüberwachung und -analyse zugreifen können. Abschließend ist KLA Candela CS920 eine hochentwickelte Wafer-Test- und Messtechnik-Plattform, die eine Vielzahl von Waferproduktionsanwendungen optimieren und vereinfachen soll. Die Plattform kombiniert fortschrittliche optische und MEMS-Technologien, automatisierte Robotik, eine leistungsstarke erweiterbare Architektur und vollständige Anpassungsfunktionen, um den Benutzern genaue und zuverlässige Daten in Echtzeit zu liefern.
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