Gebraucht KLA / TENCOR SLF27 #9298724 zu verkaufen

KLA/TENCOR SLF27 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die innovative proprietäre Scantechnologie verwendet, um den Wafer auf Anomalien oder Unregelmäßigkeiten zu scannen. Es wurde speziell entwickelt, um physikalische Defekte auf Masken- und Waferoberflächen zu erkennen. Das System verwendet spezielle optische Inspektionstechnologie, um die Eigenschaften eines Wafers oder einer Maske auf mögliche Probleme genau zu analysieren. KLA SLF27 verwendet eine Hybrid Optical Scanning Technology, die zwei Kameras mit proprietärer Optik kombiniert, um Bilder von jedem Defekt zu sammeln. Das Gerät ist hochempfindlich und ermöglicht eine präzise und effiziente Inspektion und punktgenaue Fehlerabdeckung. Diese effiziente Erkennung ermöglicht es der Maschine, Anomalien oder Defekte schnell zu erkennen und in einem leicht lesbaren Format anzuzeigen. TENCOR SLF27 ist in der Lage, die Oberfläche einer Maske oder eines Wafers schnell zu scannen, um Abweichungen zwischen ihr und zuvor festgelegten Spezifikationen zu erkennen. Mit einer durchschnittlichen Musterprüfzykluszeit von 0,2-0,4 Sekunden und einer Maskenprüfzykluszeit von 0,1-0,2 Sekunden kann die Maschine alle Fehler oder Abweichungen von den Spezifikationen schnell erkennen. Die integrierte intuitive Software macht es einfach, Daten mit einfachen und umfassenden Kontrollen genau zu analysieren. Darüber hinaus ist SLF27 Werkzeug mit speziellen Funktionen ausgestattet, die die produktive Ausbeute verbessern. Mit einem 7-Zoll-Touchscreen-Display können Benutzer mühelos scannen und mit hervorragender Genauigkeit überprüfen. Die hybride OET (Optical Efficiency Pinzette) ermöglicht es Benutzern, jedes defekte Element mit seiner 10-Mikron-Auflösung genau zu messen. Das Asset ermöglicht es Benutzern auch, die Fehlergröße mit einer hochauflösenden Bildgebungstechnologie zu messen. KLA/TENCOR SLF27 ist ein hocheffizientes und fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionsmodell mit fortschrittlichen Funktionen, um den Ertrag zu verbessern und die Inspektion zu optimieren. Die hybride OET und intuitive Software machen es extrem effektiv, mit schneller Scan- und Analysezeit, die die Produktion steigert und Kosten senkt. Das Gerät ist sehr zuverlässig, mit präziser Optik und hochauflösender Bildgebungstechnologie, die eine genaue und punktgenaue Erkennung defekter Elemente ermöglicht. KLA SLF27 System ist ein unschätzbares Werkzeug für jedes Halbleiterunternehmen, um qualitativ hochwertige Produkte sicherzustellen.