Gebraucht KLA / TENCOR SP1 Classic #9250230 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1 Classic ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für die Halbleiterindustrie. Es verwendet fortschrittliche digitale Bildgebungstechnologie, um einen schnellen, zuverlässigen und kostengünstigen Inspektionsprozess zu bieten. KLA SP1 Classic besteht aus drei Hauptkomponenten: dem Wafer Inspector, dem Image Processor und der Software. Der Wafer Inspector ist die wichtigste Hardwarekomponente des Systems. Es verwendet eine Vielzahl von hochauflösenden Kameras und Sensoren, die es ermöglichen, Bilder von Wafern bei hohen Auflösungen genau zu erfassen. Zusätzlich kann das Gerät so konfiguriert werden, dass automatisierte Tests oder kundenspezifische Tests für spezifische Kundenanforderungen durchgeführt werden. Der Bildprozessor ist die Schlüsselkomponente von TENCOR SP 1 CLASSIC, die es ermöglicht, anspruchsvolle Fehlererkennung und Klassifizierung durchzuführen. Es verwendet spezielle Algorithmen und Mustererkennung, um mögliche Fehler zu erkennen, zu identifizieren und zu kennzeichnen. Es wird verwendet, um Defekte auf Wafer/Substrat-Ebene zu erkennen und zu definieren und ihre Form, Größe und Position auf dem Wafer zu identifizieren. Die Software-Komponente der Maschine ist eine leistungsstarke, benutzerfreundliche Oberfläche. Es ermöglicht Operatoren, auf die Daten des Tools zuzugreifen, Fehler zu analysieren, Ergebnisse anzuzeigen und verschiedene Einstellungen und Parameter zu steuern. Die Software bietet anpassbare Prüf- und Analysetools, um dem Benutzer Feedback und Tools zur Fehlerbehebung zu bieten. KLA/TENCOR SP 1 CLASSIC bietet auch eine breite Palette von Feature-Upgrades, die installiert werden können, um die Fähigkeiten des Asset zu verbessern. Diese Upgrades umfassen verbesserte Beleuchtungsfunktionen, erweiterte Algorithmen zur Mustererkennung und Kameras mit höherer Auflösung. Abschließend ist SP1 Classic ein leistungsstarkes Masken- und Wafer-Inspektionsmodell, das Vielseitigkeit, Genauigkeit und Wirtschaftlichkeit bietet. Es ist ein wertvolles Werkzeug zur Messung und Erkennung subtiler Wafer-Defekte und ist die ideale Wahl, um die Anforderungen der Kunden an eine hochgenaue Inspektion und Prozesskontrolle zu erfüllen.