Gebraucht KLA / TENCOR SP1-DLS #9195318 zu verkaufen

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ID: 9195318
Weinlese: 2005
Particle measurement system 2005 vintage.
KLA/TENCOR SP1-DLS ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um die anspruchsvollsten Prozesse in der Mikroelektronik-Fertigung schnell und genau zu untersuchen. Dieses System bietet eine fortschrittliche Fehleranalyse, automatisierte Retikelerkennung und zerstörungsfreie Analyse. KLA SP1 DLS bietet hochauflösende bildgebende sowie fortschrittliche bildgebende Werkzeuge, die die Identifizierung und Klassifizierung von Fehlern mit einer höheren Genauigkeit und Geschwindigkeit als andere Systeme ermöglichen. Diese Einheit verfügt über einen verbesserten Durchsatz, verbesserte Ausbeuten durch gründliche Fehlerinspektion und flexibles Reticle-Handling. TENCOR SP 1-DLS ist mit 3D-MID Autofokus, Farbüberlagerung und Stereo-Display ausgestattet. Mit diesen Funktionen können Benutzer Muster mit nur einem Klick untersuchen und jedes Element des Musters analysieren und klassifizieren. SP1 DLS verfügt über ultraviolette, hochauflösende automatische Retikelmustermessung und Farbüberlagerungsfunktionen. Mit seinem hohen Durchsatz und seiner hohen Auflösung ermöglicht KLA/TENCOR SP1 DLS Inspektoren, Fehler schnell zu erkennen, sie zu klassifizieren und Maßnahmen zu ergreifen. Durch die Verwendung von Sensitivitätseinstellungen können Inspektoren die Maschine schnell an die Empfindlichkeitsanforderungen des Prozesses anpassen. Mit seinen leistungsstarken Bildnahtfunktionen sind Anwender auch in der Lage, große Bereiche schnell und genau zu überprüfen. Darüber hinaus bietet KLA/TENCOR SP 1 DLS die Möglichkeit zur Online-Maskeninspektion und Qualitätskontrolle. Dieses Tool unterstützt die Fehlerklassifizierung verschiedener Funktionen im Retikel, einschließlich Linienbreite, Zeilenumbruch, Maskenbildkontrast und anderer Funktionen. Seine fortschrittlichen Bildgebungswerkzeuge ermöglichen eine genaue und zuverlässige Erkennung von Fehlern, während seine Farbüberlagerung die Effektivität der Inspektion erhöht. Abschließend bietet TENCOR SP1 DLS ein umfangreiches Leistungsspektrum, das eine genaue, hochauflösende, integrierte Fehleranalyse und schnelle Netzprüfung ermöglicht. Mit seinen Hochgeschwindigkeits- und Hochauflösungsfähigkeiten, verbesserten Erträgen durch strenge Fehlererkennung und flexiblem Reticle-Handling ist TENCOR SP1-DLS ein unschätzbares Werkzeug für die Mikroelektronik-Industrie.
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