Gebraucht KLA / TENCOR SP1-DLS #9214561 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1-DLS ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die für die branchenführende Fehlererkennung und hochauflösende Bildgebung entwickelt wurde. Das System bietet beispiellose hochpräzise Bildgebung für maximale Fehlerabdeckung und trägt zur effektiven Verwaltung der Produktions- und Fertigungskosten bei. Darüber hinaus ist die Fehlererkennung des Geräts die empfindlichste und höchste Auflösung mit seinem fortschrittlichen CMOS-Sensor, 12-Bit-A/D-Konvertierung und Auflösung von 3,4 μ m, fast 500-mal besser als herkömmliche Inspektionstechniken. Die Maschine umfasst integrierte Hochgeschwindigkeits-Bildverarbeitung, Wafer-Stage-Scanning und Echtzeit-Ergebnisse zur Auswertung und Berichterstattung. Es hat Nullbalkenstörungsbildaufbereitungstechnologie, die im Ermitteln und Auswerten von Subbeschlussmustern hilft. Das Tool enthält auch erweiterte Analysetools wie Bildbinarisierung, Pixelwertanalyse und Klassifizierung. Darüber hinaus verfügt KLA SP1 DLS über hochpräzise Bildnahttechnologie zur Fehlerüberprüfung und zum Drucken. TENCOR SP 1-DLS wurde auch entwickelt, um Ausfallzeiten zu reduzieren und die Effizienz zu erhöhen. Das Asset verfügt über eine patentierte „Go-To-Slice-Mode“ -Funktion, mit der Benutzer schnell Wafer auswählen können, die überprüft werden sollen. Dies verbessert die Durchsatzraten und reduziert den Abfall, was zu erheblichen Kosteneinsparungen führt. Die Hochgeschwindigkeits- und geräuscharmen Analysefunktionen des Modells machen es effizienter als herkömmliche Werkzeuge. Schließlich bietet SP1-DLS eine leistungsstarke Suite von automatisierten Erkennungsalgorithmen für die genaueste Inspektion der Branche. Diese Algorithmen wurden entwickelt, um kleine kritische Merkmalsdefekte, routinemäßige Musterunterschiede und andere Anomalien zu erkennen. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche, mit der Benutzer eine breite Palette von statistischen Informationen anzeigen und die Leistung des Systems überwachen können. KLA SP 1-DLS Maske & Wafer Inspektionseinheit ist ideal für die Herstellung der zuverlässigsten und genauesten Bildergebnisse mit maximaler Fehlerabdeckung. Seine industrieführenden Eigenschaften, wie Nullbalkenstörungsbildaufbereitungstechnologie, hochauflösende Bildaufbereitung, haben Bildverarbeitung integriert, und haben Entdeckungsalgorithmen automatisiert, machen Sie sie eine ideale Auswahl für die Hopräzisionsinspektion. Die Maschine wurde auch entworfen, um Ausfallzeiten mit seiner schnellen Go-To-Slice-Mode-Funktion zu reduzieren, was Kosteneinsparungen und überlegene Durchsatzraten bietet.