Gebraucht KLA / TENCOR SP1-DLS #9227708 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1-DLS ist eine fortschrittliche optische Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung für präzise Fehlererkennung und -verwaltung. Es ist ein hochleistungsfähiges automatisiertes optisches Inspektionssystem mit fortschrittlicher Optik und ausgeklügelten Algorithmen zur Erkennung und Klassifizierung von Defekten und Merkmalen von ICs, Masken und Wafern auf nanoskaliger Ebene. KLA SP1 DLS-Einheit bietet einen integrierten Satz von Hard- und Software-Technologien, die die Produktion von komplexen Geräten beschleunigen helfen. Seine fortschrittliche Technologie wird sowohl für die Front- als auch für die Backside-Inspektion verwendet und bietet eine automatisierte Fehlerüberprüfung. TENCOR SP 1-DLS Maschine beinhaltet das eigenständige Maske SCORPION Inspektionswerkzeug als Hauptkomponente. Dieses Asset ist in der Lage, Fehler und Defekte sowohl auf der Vorderseite als auch auf der Rückseite zu erkennen. Es enthält ein hochmodernes, voll programmierbares Algorithmus-Modell als Teil seiner Hardware. Es ist mit der optischen Inspektionsausrüstung Waferscope für einen vollautomatischen Prozess integriert, der es ermöglicht, Fehler, Anomalien oder gerätespezifische Merkmale auf Waferebene schnell zu erkennen. Diese eingehende Analyse hilft bei der schnellen Erstellung maßgeschneiderter Lösungen, mit denen Produktionsverzögerungen reduziert und Erträge maximiert werden können. KLA SP1-DLS verfügt über ein präzises Ausrichtsystem, mit dessen Hilfe die hochauflösende Optik es ermöglicht, auch kleinste kritische Bereiche von Masken- und Waferschichten zu inspizieren. Diese wird von einem High Density Risen Lens (HDRL) angetrieben und bietet unübertroffene Wiederholbarkeit und Wiederholbarkeit auf mehreren Geräten. SP 1-DLS verfügt außerdem über eine leistungsstarke ADR-Einheit (Automated Defect Review), die Rückmeldungen zur Prozessqualitätskontrolle und eine frühzeitige Erkennung von Prozessproblemen bereitstellen kann. Dies hilft, den Produktionsprozess zu beschleunigen und die Produktionskosten insgesamt zu senken. All dies mit seiner ausgeklügelten Vektor-Führungs-Maske zur Waferausrichtung sorgt für konsistente Leistung und fehlerfreie Ergebnisse. Mit Hilfe dieser Technologien hilft es bei der schnellen Verfolgung der Produktausbeute und ermöglicht so kleinere Zykluszeiten und höhere Produktionseffizienz. KLA/TENCOR SP1 DLS ist die perfekte Lösung für hochgenaue, kleine Masken- und Wafer-Inspektion. Es hilft, Fehler und Anomalien auf Nanoskala mit großer Präzision zu erkennen und schnell zu beheben. Und es ist einfach zu bedienende Schnittstelle ermöglicht es Benutzern, die Produktion zu rationalisieren und minimale Verzögerungen zu gewährleisten. Mit seinen Funktionen wurde es entwickelt, um Prozesskontrolle, Genauigkeit und höchste Produktionsrate zu ermöglichen.