Gebraucht KLA / TENCOR SP1-DLS #9267039 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1-DLS ist ein fortschrittliches Messtechnikwerkzeug für die Masken- und Waferinspektion. Das Gerät kombiniert fortschrittliche Optik und strukturierte Lichtprojektionstechnologie mit Wafer- und Maskeninspektionsmöglichkeiten, um Produktionsoberflächen genau zu überwachen. KLA SP1 DLS wurde entwickelt, um Fehler auf Wafern, Masken und anderen Substraten schnell und genau zu erkennen und zu klassifizieren. Das System nutzt bildgebende, digitale Zoom- und Mustererkennungstechnologien, um Funktionen mit Mikrogenauigkeit zu erfassen und zu messen. Das Gerät wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Substraten zu inspizieren, einschließlich Glas, Keramik und Halbleitermaterial. Die Maschine ist in der Lage, sichtbare Partikel, unsichtbare Partikel und andere Anomalien zu erkennen und zu unterscheiden. Es ist auch in der Lage, nanogroße Partikel zu inspizieren, die detailliertere Informationen über den Charakter und die Komplexität eines bestimmten Defekts liefern können. TENCOR SP 1-DLS verwendet ein hochempfindliches, telezentrisches 5-Achsen-View-Tool mit fortschrittlicher Beleuchtungstechnologie, um Bilder in verschiedenen Winkeln zu erfassen und eine breite Abdeckung des Substrats zu gewährleisten. Die Anlage kann programmiert werden, um eine Vielzahl von Prüfzielgrößen, -orten und -messstufen zu überprüfen. KLA SP 1-DLS ist in der Lage, 3D-Bilder mit mehreren Belichtungsschritten zur weiteren Analyse zu erzeugen. Die hochauflösende Onboard-Farbkamera in Kombination mit fortschrittlicher Bildgebungssoftware und Analysealgorithmen ermöglicht es dem Modell, Fehler anhand ihrer Größe, Form und Position genau zu klassifizieren. Das Gerät nutzt ein Onboard-Mustererkennungssystem und statistische Algorithmen, um den Fehlerklassifizierungsprozess weiter zu unterstützen. SP1 DLS wird von fortschrittlicher Datenerfassungssoftware für eine effiziente Datenerfassung, -überprüfung und -archivierung unterstützt. Darüber hinaus ist SP 1-DLS erweiterbar ausgelegt, so dass bei Bedarf zusätzliche Sensoren und Module in das Gerät integriert werden können. Dies ermöglicht zusätzliche Automatisierungsstufen im Inspektionsprozess. Insgesamt ist TENCOR SP1-DLS eine leistungsstarke, präzise Maschine zur Masken- und Waferinspektion mit fortschrittlicher Optik und bildgebenden Funktionen. Die hochauflösenden Bildgebungs-, digitalen Zoom- und Mustererkennungstechnologien des Tools in Verbindung mit fortschrittlichen Datenanalyse-Algorithmen ermöglichen es TENCOR SP 1 DLS, verschiedene Arten von Fehlern genau zu charakterisieren und zu klassifizieren. Damit ist KLA/TENCOR SP 1 DLS ein unschätzbares Gut zur Sicherstellung einer hochpräzisen Produktion in der Halbleiterindustrie.