Gebraucht KLA / TENCOR SP1-DLS #9267041 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1-DLS ist eine führende Masken- und Waferinspektionsanlage, die umfassende Überwachungs- und Erkennungsfunktionen für fortschrittliche Halbleiterprozesse bietet. KLA SP1 DLS ist ein modulares Hochdurchsatzsystem zur Verarbeitung von bis zu 600 Wafern pro Stunde in einer Vielzahl von IC-Technologien, einschließlich modernster FinFET. Es verfügt über branchenführende 2D- und 3D-Bildgebungstechnologien für optische und rasterelektronenmikroskopische (SEM) Ansichten von Masken- und Waferoberflächen. TENCOR SP 1-DLS kann Fehler und andere Merkmale, einschließlich Oberflächentopologie, Mustererkennung und Overlay-Fehler schnell erkennen. Dank seiner Inspektionsgeschwindigkeit und Genauigkeit kann das Gerät Probleme schnell und genau erkennen, wodurch Korrekturen vorgenommen werden können und der potenzielle Bedarf an kostspieligen Nacharbeiten und Reparaturen reduziert wird. Darüber hinaus verfügt die Maschine über fortschrittliche Bildverarbeitungstechnologien und Algorithmen zur Unterstützung der automatisierten Fehlerklassifizierung und -identifizierung. KLA- SP1-DLS ermöglicht erweiterte Analysefunktionen, einschließlich messtechnischer Inspektion, schichtweise Maskeninspektion, Overlay-Fehlererkennung und Spaltinspektion. Die automatisierten Werkzeugeinstellungen können angepasst werden, um optimale Parametereinstellungen für eine Vielzahl von Markertypen zu gewährleisten. Dies erleichtert die Identifizierung bestimmter Parameter für die Datenanalyse, was wiederum zur Optimierung der Performance des Asset beiträgt. Das Modell verfügt auch über erweiterte Netzwerkfunktionen, die es Benutzern ermöglichen, auf Daten außerhalb des Standorts in Echtzeit zuzugreifen. Dadurch wird sichergestellt, dass Analyse und Datenerfassung in einer Vielzahl von Umgebungen stattfinden können, was eine effizientere Performance ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) zur schnellen, intuitiven Navigation von Datenerfassungs- und Analysetools. SP 1 DLS bietet ein umfassendes Leistungsspektrum, das es zu einem idealen Masken- und Wafer-Inspektionssystem für moderne Halbleiterprozesse macht. Mit seiner zuverlässigen und genauen Leistung, der schnellen Verarbeitungsgeschwindigkeit, der grafischen Navigation und umfassenden Analysetools ist das Gerät ein Muss, um Fehler in den fortschrittlichsten Produktionsverfahren für integrierte Schaltungen zu identifizieren und zu beseitigen.