Gebraucht KLA / TENCOR SP1-TBI SURFSCAN #9171668 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1-TBI SURFSCAN ist eine leistungsstarke Masken- und Waferinspektionsanlage, die eine überlegene Fähigkeit zur Fehlererkennung und -charakterisierung bietet. Das System nutzt eine fortschrittliche mehrachsige Scanstufe, um eine extrem präzise, dreidimensionale Abbildung von Fehlerstellen und -strukturen zu ermöglichen. Das ausgeklügelte Dual-Detektor-Array sorgt dafür, dass alle Fehlersignale genau erfasst werden, während die mehrschichtigen 3D-Rekonstruktionsalgorithmen dem Bediener helfen, Fehler schneller zu erkennen und zu klassifizieren. KLA SP1-TBI SURFSCAN enthält auch eine erweiterte Einheit von Fehlerklassifizierungswerkzeugen. Dadurch kann der Bediener nach bestimmten Fehlertypen suchen und individuelle, auf die Produkteigenschaften zugeschnittene „Signatur“ -Auswahlen einrichten. Die Inspektionsmaschine ist auch in der Lage, eine breite Palette von Wafer-Level-Scans durchzuführen, mit Geräteeinstellungen und Bildanalyseparametern, die auf jeden Produkttyp zugeschnitten sind. Das Inspektionswerkzeug ist hochautomatisiert und kann mit manuellen Eingriffsraten von bis zu 10% programmiert werden. Dies sorgt für extrem hohe Leistung und Durchsatz. Die hochempfindlichen und fortschrittlichen Fehlerüberprüfungsfunktionen der Anlage reduzieren den Sortierungsbedarf und senken die Gesamtkosten für die Herstellung von Halbleiterbauelementen. TENCOR SP1-TBI SURFSCAN wurde entwickelt, um die höchsten Standards für Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit zu erfüllen. Es ist auch robust genug, um die extremen Anforderungen der Produktion mit hohem Volumen zu erfüllen. Die erweiterten Erkennungs- und Klassifizierungsmöglichkeiten des Modells ergeben hohe Durchsatzraten und minimieren gleichzeitig den Zeitaufwand für die Sortierung von Prozessen. Die Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung umfasst eine Reihe hochwertiger Analysewerkzeuge, die erweiterte Datenanalyse- und Berichtsfunktionen ermöglichen. Das System bietet direkten Zugriff auf die Fehlerdaten und ermöglicht es dem Bediener, Art und Schwere des Fehlers schnell zu erkennen und zu verstehen. Diese Analyse wird durch die Hinzufügung von Zeitstempelfunktionen, die eine weitere Analyse bestimmter Arten von Defekten und deren Ursache ermöglichen, weiter verstärkt. SP1-TBI SURFSCAN ist ein wahrer Revolutionär in der Masken- und Waferinspektion. Durch die leistungsstarke und zuverlässige Fehlerinspektion in einer kompakten Einheit übertreffen die Leistungsstufen der Maschine selbst die modernsten integrierten Fehleranalysesysteme. KLA/TENCOR SP1-TBI SURFSCAN bietet Halbleiterherstellern einen Wettbewerbsvorteil, indem die mit Masken- und Wafer-Herstellungsfehlern verbundenen Kosten reduziert werden.