Gebraucht KLA / TENCOR SP1-TBI #9249676 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1-TBI ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um Fehler in integrierten Schaltungen auf der Ebene eines einzelnen Pixels zu identifizieren. Das System verfügt über fortschrittliche Optik- und Automatisierungstechnologie, um Schnelligkeit und Genauigkeit bei der Inspektion von Masken und Wafern auf Schadstoffe zu gewährleisten. KLA SP1T-BI wurde entwickelt, um viele Arten von Materialien und Medien wie Silizium und Edelstahl zu überprüfen. Die fortschrittliche Bildverarbeitungseinheit, die in TENCOR SP1 TBI verwendet wird, kombiniert die optische Zoomfähigkeit mit einer hochauflösenden Digitalkamera. Diese Kombination erzeugt eine Bildauflösung, die größer als 200 Megapixel ist. Hochauflösende, farbige, stereo- und 3D-Bilder werden erfasst. Diese Bilder werden dann mit einer 4-Megapixel-CCD verarbeitet, um Bilder mit einer 0,05-Pixel-Tonhöhe zu erzeugen. KLA SP 1-TBI kann Bilder mithilfe eines Hochgeschwindigkeitsbildprozessors schnell analysieren. Dieser Prozessor arbeitet mit einem fortgeschrittenen Algorithmus zusammen, um den Anwendern einen breiten Blick auf die jeweilige zu untersuchende Wafer- oder Maskengeometrie zu geben, wodurch sie die möglichen Fehler im Material ermitteln können. Dieser Prozessor ermöglicht auch, Bilder automatisch zu vergleichen, während unerwünschte Daten oder falsche Positive herausgefiltert werden. KLA/TENCOR SP 1-TBI ist auch mit fortschrittlicher Vision-Software ausgestattet, mit der sie Kanten, einzelne Pixel oder andere physikalische Merkmale identifizieren kann. Diese Software kann programmiert werden, um Fehler so klein wie 0,1 Mikrometer zu identifizieren, so dass der Benutzer einzelne und minutengenaue Fehler erkennen und inspizieren kann, die mit bloßem Auge verpasst werden könnten. Darüber hinaus verfügt SP 1-TBI über weitere Funktionen, die sich für Benutzer als vorteilhaft erweisen, wie automatische Wafer-Positionierung, automatisierte Mapping-Funktionen und eine Reihe von Analysen zur Erkennung von Fehlern in Wafern. Eine einzigartige und innovative Sucherfunktion ermöglicht es Benutzern, Bilder in Echtzeit zu überprüfen, ohne auf die Datenverarbeitung warten zu müssen. KLA SP1 TBI ist ein wesentliches Werkzeug bei der Entwicklung einer sehr empfindlichen Miniaturschaltung. Es wird häufig in der Halbleiterindustrie verwendet und liefert detaillierte Inspektion für Qualitätskontrollzwecke. Durch die Kombination aus optischer Technologie und fortschrittlicher Bildverarbeitung kann KLA/TENCOR SP1 TBI äußerst präzise Ergebnisse liefern. Mit ihrer robusten Leistung ist diese Maschine eine ideale Lösung, um selbst kleinste Defekte in einer Vielzahl von Materialien zu finden und zu untersuchen.