Gebraucht KLA / TENCOR SP1 #9248076 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1 ist eine Inline-Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die speziell entwickelt wurde, um kritische Defekte über die gesamte Oberfläche eines Siliziumwafers oder einer Maske zu erkennen. Seine patentierte Beleuchtungstechnik, bekannt als HDIR (High Definition Image Recognition) Beleuchtung, beleuchtet kleine Mängel, die unter gängigen optischen Inspektionssystemen nicht sichtbar sind. Seine Auflösung erreicht bis zu 4K x 4K, so dass es Fehler nur wenige Mikrometer in der Größe zu erkennen. Das System wird von einer intuitiven Software angetrieben, die ausgefeilte Algorithmen und Analysen verwendet, um die Fehler automatisch zu bewerten. Es wurde entwickelt, um sie schnell zu identifizieren und umfassende messtechnische Berichte zu erstellen und so zur Verringerung von falschen Positiven und Ertragsverlusten beizutragen. Das Gerät verfügt auch über eine Maschine für Inline-Wafer-Mapping, um die Fehlerstandorte schnell zu ermitteln und abzubilden, sowie über eine Autopilot-Funktion, die es ermöglicht, Aufträge mit minimaler Benutzerinteraktion automatisch auszuführen. Dieses Tool ist leistungsstark genug, um sowohl Wafer als auch Masken zu überprüfen. Bei Wafern kann sie Schwachstellen wie Linienkantenrauhigkeit und Eckverkürzung sowie allgemeine Verschmutzungen erkennen. Es erkennt auch Musterabstände für die Überprüfung der Linienbreite, um sicherzustellen, dass der Wafer die Produktionsanforderungen erfüllt. Für Masken ist es in der Lage, Masken zu erkennen, die mit Staub, Partikeln oder Rost verunreinigt sind. Das Asset kann auch auf Unterscheidungszeichen oder Identifizierungsmuster prüfen, um sicherzustellen, dass die Maske den Produktionsanforderungen entspricht. Das KLA SP1-Modell verfügt über eine Reihe von Testsuiten nach Industriestandard zur Auswertung, die es Anwendern ermöglichen, ihre Ergebnisse mit denen vergleichbarer Systeme zu vergleichen. Es ist hochgradig konfigurierbar für alle Prozesse, Anwendungen oder Umgebungen und ist auch mit mehreren WLAN-fähigen Schnittstellen kompatibel, was eine Ferndiagnose und -wartung ermöglicht. Insgesamt ist die Ausrüstung entworfen, um saubere, genaue und zuverlässige Ergebnisse ohne Eingriff des Bedieners zu liefern. Damit ist TENCOR SP 1 eine ideale Lösung für die Halbleiterdachindustrie und für Designer, die ihre Lieferungen überprüfen müssen. Die HDIR-Beleuchtungstechnologie und die robuste Analytik sorgen dafür, dass die Masken und Wafer fehlerfrei sind und den Produktionsstandards entsprechen.