Gebraucht KLA / TENCOR SP1 #9382809 zu verkaufen

ID: 9382809
Wafergröße: 12"
Particle counter, 12".
KLA/TENCOR SP1 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die zur Bildgebung und Inspektion von Halbleiterherstellungsmasken und Wafern verwendet wird. Es besteht aus einem platzsparenden System mit integriertem Bildverarbeitungsmotor, Sensor und Optik, einer Software-Suite und einer Plattform, die die Integration der Einheit in die Fertigungsumgebung des Kunden vereinfacht. Das Hauptziel von KLA SP1 ist es, mit seiner hochauflösenden Bildgebungstechnologie, der Edge Map Overlay-Fähigkeit, der statistischen Analyse der Inspektionsergebnisse und einem fortschrittlichen Algorithmus, der Linearität, Wiederholbarkeit und Genauigkeit bietet, eine schnelle und zuverlässige Inspektion der Qualität der hergestellten Masken und Wafer zu erreichen. TENCOR SP 1 besteht aus einer leistungsstarken optischen Plattform, die hochauflösende Bildgebung und überlegene Beleuchtung für zuverlässige und wiederholbare Inspektionsergebnisse bietet. Die Maschine ist mit einer integrierten motorisierten X-Y-Stufe ausgestattet, die eine nahtlose Bildgebung und Inspektion über 6 „oder 12“ Wafer oder Masken ermöglicht. Es enthält auch eine fortschrittliche Light Path Optimizer (LPO) -Technologie, die den optischen Pfad schnell anpasst, um die Bildaufnahme zu optimieren und gleichzeitig das Bildrauschen zu minimieren. SP 1 arbeitet mit einer Geschwindigkeit von 1000 Bildern pro Stunde und liefert hohe Geschwindigkeit und Präzisionsbildgebung für die Echtzeitanalyse. Die Software-Suite im Zusammenhang mit KLA/TENCOR SP 1 ist eine Suite von Software-Tools, die den Inspektionsprozess durch die Bereitstellung von Workflow-Automatisierung, Fehlererkennung, Artikelverfolgung und Echtzeit-Diagnose optimieren. Es wurde entwickelt, um Werkzeugaufbauzeiten zu reduzieren, Labortests zu automatisieren und Inspektionszyklen zu optimieren. Die Suite verfügt über eine eigene umfassende Benutzeroberfläche und enthält leistungsstarke Funktionen für die Datenerfassung, Bildverarbeitung, Fehleranalyse, Elementverfolgung, Ergebnisvalidierung und Berichterstattung. Es hat auch die Fähigkeit, Inspektionsergebnisse in verschiedenen Formaten zu generieren, einschließlich PDF, HTML, XML und CSV. TENCOR SP1 wird auch von einer Plattform begleitet, die die Integration des Kunden in die Fertigungsumgebung vereinfacht. Es bietet anpassbare, einfach zu installierende Softwarelösungen für die Bestandsverwaltung, messtechnische Koordination und Ergebnisvalidierung. Es gewährleistet eine nahtlose Kommunikation zwischen dem Betreiber und KLA SP 1 Asset und hat die Fähigkeit, mehrere SP1-Systeme miteinander zu verbinden. Die Plattform hilft auch, die Produktion zu rationalisieren und Ausfallzeiten zu minimieren, indem detaillierte Aktivitätsaufzeichnungen für die Rückverfolgbarkeit bereitgestellt werden. Mit seiner leistungsstarken Bildgebungstechnologie, fortschrittlichen Software-Suite und intelligenten Plattform ermöglicht KLA/TENCOR SP1 Kunden, ihre Halbleiterbauelemente, Wafer und Masken schnell und genau zu überprüfen. Es beseitigt manuelle Fehler, bietet Anpassungen mit einfacher Integration und hilft, Kosten zu senken und die Effizienz im Herstellungsprozess zu maximieren.
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