Gebraucht KLA / TENCOR SP2 XP #9195049 zu verkaufen

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ID: 9195049
Weinlese: 2014
Inspection system 2014 vintage.
KLA/TENCOR SP2 XP ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die überlegene optische Leistung und branchenführende Messgenauigkeit für Forschung, Entwicklung und Fertigungseinsatz mit hoher Genauigkeit bietet. Sein modernes optisches Design bietet eine hervorragende Bildaufnahme und erweiterte Fehlererkennungsfähigkeit für die Halbleitermasken- und Waferinspektion. Es bietet auch eine intuitive Bedienoberfläche und automatisierte Programme für schnelle, wiederholbare Ergebnisse und einfache Bedienung. Das KLA SP2 XP-System wurde speziell für überlegene optische Leistung und Inspektionsgenauigkeit entwickelt und bietet im Vergleich zu ähnlichen Systemen eine hochauflösende Bildgebung mit voller Tiefenbeleuchtung und ein 10X größeres Sichtfeld. Dies ermöglicht es Benutzern, sehr kleine Fehler und Variationen in Strukturen zu erkennen und falsche Positives zu vermeiden. TENCOR SP2-XP verfügt über eine integrierte Abtasteinheit bestehend aus einem 533 nm Festkörperlaser, einem sich schnell bewegenden Strahl über den gesamten Wafer und einem CCD-Detektor zur Echtzeit-Bildaufnahme. Es enthält auch eine umfassende Suite von Software-Tools zur Zustandsbewertung, Erkennung von Defekten mit niedrigem Kontrast und Fehlererkennung, die Benutzern die Möglichkeit bieten, sehr kleine und schwer sichtbare Fehler zu erkennen und gleichzeitig unechte Ergebnisse zu vermeiden. SP2-XP wurde entwickelt, um die anspruchsvollsten Anforderungen an die Halbleiterscheiben- und Maskeninspektion zu erfüllen. Es verfügt über eine hochgenaue Stufenmaschine für die Nanometer-Stufensteuerung sowohl im Scan- als auch im Nicht-Scan-Modus und eine erweiterte Motorsteuerung für ultraschnelle Scan-Gleichmäßigkeit und Präzision. Das Tool bietet auch eine interaktive Benutzererfahrung mit einer intuitiven GUI und automatisierten Programmen zur schnellen und einfachen Erkennung und Isolierung von Defekten. Echtzeit-Fehlererkennung kann in zwei Modi durchgeführt werden: in-scan-nonstop und auto-detect-nonstop, die noch mehr Flexibilität und Zeitersparnis bieten. KLA/TENCOR SP2-XP ist eine kostengünstige Lösung, die die Inspektion von Wafer- und Maskenmustern vereinfacht. Mit seiner überlegenen Leistung und dem umfassenden Funktionsumfang ist es die ideale Wahl für die Masken- und Waferinspektion in Forschung, Entwicklung und Fertigung.
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