Gebraucht KLA / TENCOR SP2 #9138110 zu verkaufen

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ID: 9138110
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2012
Surface inspection system,12" Dual FIM /FOUP Vacuum puck handling Wafer measurement module Optimized sensitivity Throughput < 37 nm defect sensitivity on polished bare silicon Enables qualification of current Next Generation Substrates SOI, Strained SOI Strained Si UV Laser illumination Defect map Histogram with zoom IMicroview measurement capability Real-time defect classification (RTDC) Can be upgraded to SP2 XP at additional cost Microsoft XP operating system Blower box 2012 vintage.
KLA/TENCOR SP2 ist eine fortschrittliche Masken- und Waferinspektionsanlage, die speziell für die Beurteilung der Masken- und Waferqualität entwickelt wurde. Dieses hochmoderne System nutzt eine Kombination aus proprietärer optischer Bildgebung, Fehlererkennung und fortschrittlicher Analytik, um eine umfassende und genaue Inspektion zu gewährleisten. KLA SP-2 ist in der Lage, eine Reihe automatisierter Aufgaben durchzuführen, wie z. B. die Feinlinienbildbewertung, Fehlererkennung und die Nutzung der großen Anzahl von Sensoren, die in alle Spitzen-Lithographie-Techniken eingebettet sind. Es ist in der Lage, die Dicke von Folienschichten zu analysieren, kritische Abmessungen von Geräteeigenschaften zu identifizieren und andere kritische Metrologiefunktionen durchzuführen. Darüber hinaus ist das Gerät in der Lage, die Gleichmäßigkeit der Prozessergebnisse zu überwachen und die Qualität von Teilen mit optisch glatten Oberflächen zu bewerten. TENCOR SP 2 verfügt über erweiterte Mustererkennungsfunktionen und bietet Benutzern eine effektive und effiziente Möglichkeit, anfällige Fehler zu identifizieren. Eine unzureichende Teilequalität ist erkennbar, da die Maschine Verunreinigungen, Mängel und andere Materialunregelmäßigkeiten erkennen kann, die zu einer Reduzierung der hergestellten wartungsfähigen Bauteile führen können. Das KLA/TENCOR SP 2-Tool ist in der Lage, eine vertiefende Datenerfassung bereitzustellen, die ein Echtzeitbild des laufenden Prozesses liefert. Darüber hinaus ist das Asset in der Lage, die Fehlerskalierbarkeitsanalyse zu erleichtern und die Bewertung von Prozesstrends zu ermöglichen, um die Renditesätze zu verbessern. Alle gesammelten Daten werden gespeichert und können problemlos abgerufen werden, um sicherzustellen, dass Benutzer in der Lage sind, datengesteuerte Entscheidungen effektiv und genau zu treffen. SP-2 gilt weithin als innovatives Masken- und Waferinspektionsmodell. Mit proprietärer optischer Bildgebung und fortschrittlicher Fehlererkennung bietet es Anwendern einen genauen und umfassenden Überblick über die Prozessergebnisse. Es ist ein unschätzbares Werkzeug, das verbesserte Produktionseffizienz und Ertragsraten erleichtern kann.
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