Gebraucht KLA / TENCOR STARlight SL3 Series #9101332 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9101332
Lot of PCB's:
(1) P/N: 710-060329-00
(1) P/N: 710-034287-00
(1) P/N: 710-032926-00
(1) P/N: 710-057895-00
(1) P/N: 710-034282-00
(3) P/N: 710-034292-00
(1) P/N: 710-034302-00
(1) P/N: 710-060031-00
(1) P/N: 710-060914-00
(1) P/N: 700-032926-00
(3) P/N: 710-058894-00
(1) P/N: 710-057306-00
(1) P/N: 710-057306-00
(1) P/N: 710-058063-00
(2) P/N: 710-058894-002
(1) P/N: 710-058895-003
(6) P/N: 710-060914-00.
Die KLA/TENCOR STARlight SL3 Serie ist eine hochmoderne Inspektionsanlage, die sowohl für Masken als auch für Wafer in der Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Das System verwendet fortschrittliche Bildgebungstechnologie, um alle Schichten des Produkts mit einer hohen Genauigkeit und Auflösung zu überprüfen. Die KLA STARlight SL3 Serie besteht aus drei Modellen: SL3000, SL3200 und SL3100. Jedes Modell hat seine eigenen einzigartigen Eigenschaften, die auf die Bedürfnisse verschiedener Kunden zugeschnitten sind. Das SL3000 ist mit einer automatisierten Wafer-Inspektionseinheit mit hohem Durchsatz und einem großflächigen Wafer-Inspektor zur Erkennung von Defekten in Masken und Wafern ausgestattet. Die SL3200 Serie verfügt über eine Wafer-Inspektionsmaschine, die speziell für die Inspektion von großflächigen Wafern entwickelt wurde und eine überlegene Auflösung und Genauigkeit bietet. Das SL3100 Modell bietet volle Defokusfähigkeit und einen hochauflösenden Sensor zur Inspektion von Masken und Wafern. TENCOR STARlight SL3 Series bietet eine Vielzahl von Inspektionsmerkmalen wie Oberflächenfehlerinspektion, Fehlerisolierung, CD- und Filmmessung, Overlay-Messtechnik, Lithographiemusterbewertung sowie die Erkennung von Stempel-zu-Stempel-Defekten. Jede dieser Funktionen soll Kunden einen umfassenden Einblick in die Qualität ihrer Produkte bieten. Das Werkzeug enthält auch ein Partikelinspektionsmerkmal, das Partikelverunreinigungen auf dem Wafer detektiert und isoliert. Neben überlegenen Produktinspektionsmöglichkeiten bietet die STARlight SL3 Series eine Vielzahl fortschrittlicher Softwarefunktionen, darunter ein Fehlerprüfmodul, einen automatischen Fehlerreapper, ein Tool zur kritischen Dimensionsanalyse, ein Defektclustering-Tool und ein Fehleranalyse-Tool. Diese Softwarefunktionen optimieren den Workflow des gesamten Inspektionsprozesses und sorgen dafür, dass Kunden Fehler schnell erkennen und ihre Prozesskontrolle verbessern können. Die KLA/TENCOR STARlight SL3 Serie vereint das Beste aus beiden Welten: Hochleistungs-Bildgebungstechnologie und anspruchsvolle Software-Tools. In Kombination bieten diese beiden Merkmale den Kunden einen umfassenden Einblick in die Qualität ihrer Produkte. Die Anlage ist sowohl für Produktions- als auch F & E-Kunden konzipiert und bietet ihnen die Lösungen, die sie benötigen, um die Qualität zu verbessern und die Zykluszeiten zu reduzieren. Durch die Nutzung der fortschrittlichen Bildgebungstechnologie und Software der KLA STARlight SL3 Series können Kunden sicherstellen, dass ihre Produkte höchsten Qualitäts- und Konsistenzstandards entsprechen.
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