Gebraucht KLA / TENCOR Starlight SL3 UV #293815985 zu verkaufen

KLA/TENCOR Starlight SL3 UV ist eine leistungsstarke Hightech-Wafer- und Maskeninspektionsanlage, die für die bildgebende und automatisierte Inspektion von gemusterten Substratschichten verwendet wird. Es hat eine hochauflösende Bildaufbereitungsfähigkeit von 5 Mikron und eine automatisierte brightfield/darkfield Schaugeschwindigkeit von bis zu 30 Oblaten pro Stunde. KLA Starlight SL3 UV bietet eine Reihe von leistungsstarken Bilderfassung shuxploiting das maximale Potenzial von geladenen gekoppelten Gerät (CCD) Kameras und fortschrittliche Beleuchtungstechnologien. Es beinhaltet simultane Hellfeld- und Dunkelfeldbildgebung, die verwendet wird, um kleine Defekte, Unvollkommenheiten und Ungleichmäßigkeit in gemusterten Schichten zu erkennen und zu messen. Mit seiner fortschrittlichen Bildgebungstechnologie erstellt das System einen systematischen Überblick über verschiedene Layoutebenen und Musterstrukturen, so dass Anwender diese schnell analysieren und vergleichen können. In Bezug auf Inspektionsmöglichkeiten bietet TENCOR Starlight SL3 UV erweiterte automatisierte optische Inspektionsmöglichkeiten (AOI) mit automatisierter optischer Sondierung (AOP). Mit dieser AOP-Technologie können Anwender Bereiche des Musters mit unterschiedlichen Detail- und Auflösungsstufen definieren und diese Bereiche dann schnell für eine eingehende Analyse und einen Vergleich scannen. Die Einheit kann auch detaillierte Maskenberichte mit statistischer Analyse zur weiteren Analyse erstellen. In puncto Performance ist Starlight SL3 UV äußerst zuverlässig und bietet ein beeindruckendes Leistungsspektrum. Seine fortschrittliche Beleuchtungstechnologie sorgt für einen hohen Kontrast sowie eine gleichmäßige Beleuchtung für genaue und zuverlässige Ergebnisse. Mit seinen Hochgeschwindigkeits-Scanfunktionen kann die Maschine kleine Fehler und Variationen schnell erkennen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette von Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, automatisiertes Dunkelfeld und Lichtfeld-Bildgebung, automatisierte optische Sondierung (AOP) Technologie und fortschrittliche statistische Analyse. Abschließend bietet KLA/TENCOR Starlight SL3 UV die notwendigen Werkzeuge und Funktionen, um Musterschichten schnell zu überprüfen und zu vergleichen. Seine fortschrittlichen Bildgebungs- und Automatisierungstechnologien ermöglichen es Anwendern, kleine Fehler, Unvollkommenheiten und Ungleichmäßigkeiten zu erkennen und zu messen. Darüber hinaus sorgen die hochauflösende Bildgebung, die fortschrittliche Beleuchtung, die automatisierte optische Sondierung und detaillierte Berichte mit statistischer Analyse für genaue und zuverlässige Ergebnisse.