Gebraucht KLA / TENCOR STARlight SL437 #9115268 zu verkaufen

KLA/TENCOR STARlight SL437 ist eine fortschrittliche, High-End-Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung entwickelt, um genaue und zuverlässige Bilder mit einer außergewöhnlichen Geschwindigkeit durchführen. Dieses System nutzt eine fortschrittliche optische Einheit mit einer ganzen Reihe von digitalen Bildgebungsoptionen und leistungsstarken Bildanalysefunktionen, um die Genauigkeit und Zuverlässigkeit des Inspektionsprozesses zu gewährleisten. Der modulare Aufbau des SL437 ermöglicht Flexibilität für die individuellen Bedürfnisse jedes Kunden. Die bildgebenden Fähigkeiten der Maschine basieren auf einem doppelt verkleideten Laser und einer 25-nm-Spaltöffnungsoptik, wodurch sie das größte Sichtfeld für die Wafer- und Maskeninspektion anzeigen kann. Die bildgebenden Sensoren auf der SL437 basieren auf einem 8-Megapixel-CMOS-Vollbild-Bildsensor und einem 1,8-Megapixel-16bit-Farb-CCD-Bildsensor. Damit kann die SL437 hochgenaue Inspektionen mit bis zu 320 Bildern pro Sekunde durchführen. Die erweiterten Bildanalysefunktionen der SL437 ermöglichen es, Fehler mit hoher Zuverlässigkeit zu erkennen und zu lokalisieren. Die Fehlererkennungsalgorithmen basieren auf der fortschrittlichen Entscheidungsanalyse der Defekte, die eine besonders genaue und zuverlässige Erkennung ermöglicht. Dieses Tool enthält leistungsstarke Musterabstimmungsfunktionen, die es Benutzern ermöglichen, Fehler einer bestimmten Kategorie zu erkennen, z. B. das Überbrücken oder das Öffnen unter Verwendung vorheriger Muster. Das SL437 ist für mehrschichtige Operationen mit seinen Skalierungsmöglichkeiten und Nullkalibrierung konzipiert. Die Skalierung ermöglicht es Benutzern, die Inspektionsparameter automatisch auf eine Vielzahl von Arten von Wafern oder Masken anzupassen, um wiederholbare Inspektionen zu gewährleisten. Darüber hinaus können Benutzer des SL437 Asset mithilfe eines virtuellen Beispielansatzes den gesamten Wafer oder die Maske aus einem einzigen Bild heraus untersuchen und so schnelle Fehlererkennungsprozesse ermöglichen. Das KLA STARlight SL437 Modell bietet hohe Leistung und Zuverlässigkeit für die Wafer- und Maskeninspektion. Mit einer fortschrittlichen optischen Ausrüstung mit digitaler Bildgebung kann dieses System Inspektionen mit bis zu 320 Bildern pro Sekunde durchführen und den Durchsatz moderner Produktionsanlagen leicht anpassen. Die Bildanalyse-Algorithmen sorgen für leistungsstarke Musteranpassungs- und Fehlerlokalisierungsfunktionen. Darüber hinaus verfügt das SL437 über integrierte Skalierungs- und virtuelle Beispielfähigkeiten, die es Anwendern ermöglichen, die Inspektionsleistung schnell auf Mehrschichtoperationen auszudehnen.