Gebraucht KLA / TENCOR Surfscan SP1 Classic #9224666 zu verkaufen

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ID: 9224666
Weinlese: 1998
Wafer surface analysis system, 12" Operating system: Windows NT Laser: Ar 488 30 mW SECS / HSMS: SECS-1 (Emulex) BROOKS FIXLOAD 25TM Handler P/N: 013077-211-20 Single FOUP, 12" Handling: Back chuck (Pack) Option: RFID ASYST ADVANTAGE PB 90M (PMQATR9000) 1998 vintage.
KLA/TENCOR Surfscan SP1 Classic ist eine hochpräzise Ausbeute-Verbesserung Ausrüstung entwickelt, um die Produktionsleistung von integrierten Schaltungen (ICs) durch eine automatisierte Maske und Wafer Inspektion zu maximieren. Die fortschrittliche Technologie des Systems erhöht die IC-Ausbeute durch die Identifizierung von Defekten und schlechter Ausrüstungsleistung. KLA Surfscan SP1 Classic verfügt über sieben Produkte, darunter Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeuge, Wafer-Mess- und Inspektionssysteme und andere Produktionswerkzeuge. Alle diese Komponenten arbeiten zusammen, um die IC-Fertigung zu optimieren und zu verbessern. Seine Maskeninspektionseinheit verwendet beispielsweise automatisierte Fehlererkennungsalgorithmen, um minimale, lebenszyklusdämpfende Fehler in IC-Maskenmustern schnell zu identifizieren. Es kommt auch mit einer fortschrittlichen optischen Maschine zur Messung der Ausrichtungsgenauigkeit, um auf Fehlausrichtungs- und Überlagerungsfehler zu überprüfen. Die Wafer-Inspektionssysteme von TENCOR Surfscan SP1 Classic nutzen modernste Optik und Algorithmen, um Halbleiterdefekte über alle Waferschichten zu erkennen und zu charakterisieren. Erweiterte direkte Wafer-Scanning ermöglicht das Werkzeug schnell erkennen Beulen, Partikel, und Schälfehler, die wichtige Indikatoren für ertragssteigernde Probleme sind. Das Asset verfügt auch über ein automatisiertes Fehlerprüfungsmodell, das Fehlerereignisse kennzeichnen, priorisieren und überprüfen kann. Andere Produktionswerkzeuge der UCK ermöglichen es Anwendern, IC-Erträge zu optimieren. Das WaferCap-Tool misst und vergleicht beispielsweise kritische IC-Parameter über alle IC-Chips auf dem Wafer. Inzwischen bietet die YieldQ-Softwareplattform robuste Analyse- und Makrosteuerungsfunktionen, die IC-Herstellern helfen, das Beste aus ihren Produktionsprozessen herauszuholen. Die ausgeklügelten Diagnosefunktionen von Surfscan SP1 Classic sorgen für einen höheren Produktionsertrag und helfen Kunden, Fehler zu identifizieren und zu beheben, die sonst zu Ertragsreduzierungen führen könnten. Durch das Erkennen und Lösen unsichtbarer Probleme erhöht KLA/TENCOR Surfscan SP1 Classic den Produktionsdurchsatz, senkt die Herstellungskosten und steigert die Kundenzufriedenheit.
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