Gebraucht KLA / TENCOR Surfscan SP3 #9396622 zu verkaufen

KLA/TENCOR Surfscan SP3 ist ein Masken- und Wafer-Inspektionssystem zur Erkennung und Messung von Defekten auf Halbleiter- und Nichthalbleitersubstraten. Mit einer Kombination aus ausgeklügelter Bildaufnahme und Analyse kann KLA Surfscan SP3 bis zu vier Proben jeder Art mit einer einzigen Aktion inspizieren, um sicherzustellen, dass Kunden schnelle und genaue Fehlerdaten erhalten. Der Kern des Geräts ist sein optisches Subsystem, das zwei anspruchsvolle Kameras umfasst - ein ultra-hochauflösendes Farb-CCD für präzise planare Bildgebung und ein 5x hochauflösendes Graustufen-CCD für selektiveres Scannen. Integrierte Beleuchtung bietet natürliche Beleuchtung für konsistente Ergebnisse, und eine Reihe von automatisierten und manuellen Bildmanipulationsoptionen ermöglichen es dem Benutzer, die Bildeinstellungen nach Bedarf schnell anzupassen. TENCOR Surfscan SP3 ist darüber hinaus mit einem Low-Background-System für lichtempfindliche Proben, wie Mikroskopieproben, sowie einem Field-of-View-Finder zur automatisierten Bildaufnahme und Positionierung der Probe im Sichtfeld ausgestattet. Die automatisierte Manipulation der Probenmorphologie rundet die Funktionen des Geräts als umfassendes Werkzeug für Bildgebung und Inspektion ab. Auf der Datenseite verwendet Surfscan SP3 eine leistungsstarke Software-Engine, um komplexe Bildanalyseoptionen bereitzustellen. Messdaten können aggregiert und in mehrere Frameworks sortiert werden, oder Algorithmen können verwendet werden, um nach bestimmten Partikelmerkmalen zu suchen oder einzelne Defekte auf Nanometerebene zu identifizieren. Darüber hinaus kann die Software verwendet werden, um Bilder lokal oder aus der Ferne für weitere Überprüfung und Analyse zu archivieren. Die Vielseitigkeit von KLA/TENCOR Surfscan SP3 macht es zu einem der zuverlässigsten verfügbaren Werkzeuge - ideal zum Erkennen, Messen und Analysieren von Defekten auf einer Vielzahl von Masken- und Wafersubstraten. Es bietet Präzision, Genauigkeit und Benutzerfreundlichkeit und ist damit die führende Wahl für die Fehlererkennung in der Halbleiterindustrie.