Gebraucht KLA / TENCOR WI-2250 #293607201 zu verkaufen

KLA/TENCOR WI-2250 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die qualitativ hochwertige Fehlererkennungsleistung für Halbleiterhersteller liefert. Es verfügt über fortschrittliche Technologien wie die zum Patent angemeldete WaveSightTM-Bildgebungstechnologie, die im Vergleich zu herkömmlichen Musterlösungen eine um bis zu 50% verbesserte Empfindlichkeit bietet. Es verwendet gepulste Laserstrahlen und eine hochauflösende CCD-Kamera, um kritische Inspektionen der komplexesten Defektfunktionen durchzuführen und die zuverlässigsten und genauesten Ergebnisse zu bieten. Das System eignet sich für Anwendungen wie Inspektion von optischen Masken, Photomasken, Fehlerinspektion und Messtechnik, Chip-zu-Chip-Inspektion, Overlay-Messtechnik, Wafer-zu-Wafer-Bildgebung und vieles mehr. Es wurde entwickelt, um auch sehr kleine Defekte wie Nadelöcher, Kratzer und Staubpartikel bis zu 0,2 Mikrometer zu erkennen. Die Inspektionseinheit bietet eine überlegene Bildqualität, die eine zuverlässige Fehlerabdeckung und einen schnellen Durchsatz ermöglicht. Die KLA- WI-2250 bietet auch Funktionen zur automatischen Fokussierung und automatischen Kalibrierung, was eine einfache Bedienung und eine schnelle Startzeit ermöglicht. Für den Routinebetrieb ist kein Bediener erforderlich, und die Maschine kann leicht trainiert und aktualisiert werden, um die Anforderungen der Waferinspektion zu erfüllen. Das optische Werkzeug besteht aus einem patentierten Interferometer, einem telezentrischen Bildverarbeitungsgerät, einem 5fachen optischen Zoomobjektiv, einem integrierten Beleuchtungsmodul und einer hochauflösenden CCD-Kamera. Der bildgebende Prozess ist auch mit SPC (statistical process control) kompatibel, um sicherzustellen, dass neue Prozessrezepte für jede neue Schicht realisiert werden. TENCOR WI-2250 Modell ist in der Lage, hochpräzise Messungen für Maskenauswertung, Schaltung und Werkzeugmusteridentifikation und Overlay-Messtechnik-Anwendungen bereitzustellen. Es entspricht den neuesten Industriestandards für die 3D-Bewertung und wird durch eine Garantie unterstützt, um Qualität und Zuverlässigkeit zu gewährleisten. WI-2250 ist eine ideale Wahl für die Masken- und Waferinspektion und eignet sich für Anwendungen in den fortschrittlichsten Fertigungsprozessen von Halbleiterbauelementen. Es bietet eine überlegene Empfindlichkeit, um Defektfunktionen bis zu 0,2 Mikrometer, eine zuverlässige Fehlerabdeckung und einen schnellen Durchsatz zu erkennen, wodurch es die perfekte Wahl für alle Ihre Anforderungen an die Fehlerinspektion ist.