Gebraucht LEICA INS 3000 DUV #293628457 zu verkaufen

LEICA INS 3000 DUV ist eine führende Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung zur Erkennung von Sub-Mikron-Defekten. Dieses System bietet hochauflösende, automatisierte Bildgebungslösungen, mit denen Anwender Fehler für eine Vielzahl von Anwendungen schnell erkennen und charakterisieren können. Mit einem Quantum Well Detektor liefert das INS 3000 DUV einen hohen Dynamikbereich und höhere Signal-Rausch-Verhältnisse. LEICA INS 3000 DUV hat die Fähigkeit, die kleinsten Partikel bis zu 0,1 µm zu erkennen, und bietet gleichzeitig über eine Vielzahl von Substraten wie Siliziumwafer, Photomasken, Glasplatten, Keramikpackungen und andere metallisierte Objekte hervorragende Ergebnisse. Es kann Kontaminationen sowie punktgenaue Defekte, Risse und Gruben erkennen. Das Gerät bietet hochwertige Scan- und Inspektionstechnologien, die es Anwendern ermöglichen, eine vollständige Abdeckung ihrer Proben zu erreichen und eine zuverlässige Fehlererkennung in einem Bruchteil der Zeit im Vergleich zur manuellen Inspektion zu gewährleisten. Automatisierte Softwareeinstellungen bieten einen optimierten Ansatz, um die Maschine auf die spezifischen Bedürfnisse des Benutzers zu optimieren und Fehler genau zu identifizieren. Das INS 3000 DUV bietet zudem eine umfassende Palette von Druckanalysetools, um Oberflächenkontinuität und Untergrundsubtraktion zu gewährleisten. Verschiedene Bildverarbeitungs- und Filterfunktionen helfen, die Genauigkeit zu erhöhen und den Inspektionszyklus zu verkürzen. Die gesamten Automatisierungsmodi ermöglichen es dem Tool, ein Muster zu scannen und das höchstmögliche Kontrastbild für die besten Erkennungsergebnisse zu erzeugen. Neben überlegenen Erkennungsfunktionen bietet LEICA INS 3000 DUV Benutzern auch die Möglichkeit, benutzerdefinierte Masken zu definieren, geometrische Formen zu verifizieren und Parameter zu messen, um mögliche Fehler schnell zu identifizieren. Es bietet auch Wiederholbarkeitstests und automatische Fehlerklassifizierung und ermöglicht eine breite Palette von Benutzersteuerungen, einschließlich Vergrößerung, Bildverarbeitung, Auflösung, Helligkeit, Kontrast und Fehlerschwelle. Das INS 3000 DUV ist ideal für Prozesse, die eine automatische Fokussierung, Markierung oder Fehlerüberprüfung erfordern, da es hochauflösende 3D-Scanfunktionen bietet. Die Dual-Side-Ansicht und die Multifield-Nähtechnologie ermöglichen schnelle und exakte Messungen. Insgesamt ist LEICA INS 3000 DUV eine effiziente und präzise Ergänzung zur Erkennung und Charakterisierung von Defekten in Masken- und Waferanwendungen. Es bietet dem Benutzer ein schnelles, genaues und zuverlässiges Mittel zum Scannen und Erkennen von Oberflächenfehlern und bietet gleichzeitig eine Vielzahl anpassbarer Funktionen und Werkzeuge.