Gebraucht LEICA INS 3000 #293619072 zu verkaufen

LEICA INS 3000
ID: 293619072
Wafer defect inspection system SMIF.
LEICA INS 3000 ist eine leistungsstarke Masken- und Waferinspektionsanlage, die eine umfassende Qualitätskontrolle und Produktionsprozesskontrolle bietet. Das System ist speziell auf die Verbesserung von Ertrag und Durchsatz im Produktionsprozess zugeschnitten und gewährleistet eine höhere Waferqualität. Das Gerät verfügt über eine Hochleistungs- 180kV Flachbildschirm-Röntgenquelle, die ein scharfes, klares Bild aller Schichten auf der Maske oder dem Wafer liefert, unabhängig von der Orientierung oder Komplexität der Schicht. Die Abbildungsmöglichkeiten der Maschine reduzieren die Inspektionszeiten drastisch, da mehrere Schichten und Bereiche gleichzeitig inspiziert werden können. Das Werkzeug verfügt auch über Laser-Fokussierungsfähigkeiten für die Inspektion jeder Größe oder durch jedes Material. Darüber hinaus bietet LEICA INS-3000 eine automatische Fehlererkennung mit Algorithmen, die auf den gleichen Prinzipien basieren, die in der digitalen Bildverarbeitung verwendet werden. Dies sorgt für maximale Genauigkeit bei höchster Qualitätskontrolle. Die Prüfeinrichtung umfasst eine Vielzahl von Bildverarbeitungssoftware, wie Histogrammverarbeitung, Auto-Schwellwertbildung und Morphologiefunktionen. Alle diese Funktionen helfen bei der Identifizierung von Defekten und Diskrepanzen an der Maske oder dem Wafer. Das INS 3000 verfügt zudem über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI), die eine einfache Steuerung und Navigation des Modells ermöglicht. Die GUI ermöglicht auch die Speicherung von Masken- und Wafer-Inspektionsergebnissen für zukünftige Vergleiche und Referenzen. Darüber hinaus ist das Gerät in der Lage, sich mit externen Datenbanken zu verbinden, so dass die Masken- und Wafer-Inspektionsdaten einfach geteilt und gesammelt werden können. Schließlich umfasst INS-3000 ein integriertes Alarmsystem, das die Betreiber auf etwaige Abweichungen oder mögliche Mängel während des Inspektionsprozesses aufmerksam macht. Dies hilft, Ausfallzeiten zu reduzieren, da Betreiber in der Lage sind, Probleme schnell zu identifizieren und zu beheben. Insgesamt ist die Masken- und Wafer-Inspektionseinheit LEICA INS 3000 ein unschätzbares Instrument, um höchste Qualitätskontrollen auf jeder Produktionslinie zu gewährleisten. Die leistungsstarken Bildverarbeitungsfunktionen, die automatisierte Fehlererkennung und die integrierte Alarmmaschine tragen zur Steigerung der Erträge und zur Reduzierung von Ausfallzeiten bei, während die intuitive grafische Benutzeroberfläche und die externe Datenbank-Konnektivität eine schnelle Zusammenstellung und Analyse von Inspektionsdaten ermöglichen.
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