Gebraucht LEICA INS 3000 #293689181 zu verkaufen

ID: 293689181
Weinlese: 2000
Wafer defect inspection system 2000 vintage.
LEICA INS 3000 ist eine robuste Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für ihr fortschrittliches Design, ihre führende Auflösung und zuverlässige automatisierte Prozesse anerkannt ist. In der Lage, die Fehlererfassung von vollautomatischen Handhabungsprozessen bis zu 300mm Wafern zu scannen, bietet es ein einfach zu bedienendes Design, das ideal ist, um Fehler auf höchstem Minutenniveau mit höchster Genauigkeit zu trennen. Das System arbeitet durch die Erkennung, Charakterisierung und Sortierung von Defekten - sowohl physikalisch als auch elektrisch - mit seiner integrierten Suite von hochauflösenden optischen Werkzeugen. Dazu gehören ein Tomo Broadband-Beleuchtungs-Array, eine Feldemission-SEM-Einheit sowie hochauflösende RGB-Bildgebung. Von der Leistungsfähigkeit von LEICA INS-3000 profitiert auch die Unterstützung einer Reihe ertragssteigernder Bildverarbeitungsfunktionen. Dazu gehören erweiterte Funktionen und Dichteerkennung, intelligente Mustererkennung und Präzisionsnähte, um Gitter und Funktionen bis zu einer Größe von 0,2 μ m zu erfassen. Darüber hinaus bietet ein integriertes Defekt-Vorsortiermodul höchste Genauigkeit mit vorhandenen Bibliotheksdaten und automatisierten Reporting-Funktionen. Diese Einheit wird auch mit zahlreichen flexiblen Analysewerkzeugen geliefert, vor allem um Ingenieuren bei der Entwicklung innovativer Prozessinspektionslösungen zu unterstützen. Die integrierte Software-Suite mit erweiterter AutoFE-SAM-Analyse umfasst eine Bildbeleuchtungssteuerung sowie einen verbesserten Satz vergleichender Bildverarbeitungswerkzeuge. Die verbesserten Mustererkennungsfunktionen werden durch Schulungen vor Ort und Tutorials ergänzt, mit denen Kunden ihre visuelle Inspektionsanalyse anpassen können. Dank seiner flexiblen Konfiguration unterstützt die Maschine INS 3000 auch eine Vielzahl von Produktionsvorgängen wie Stirn- und Drahtverbundprüfungen, Partikelprüfung und eine Vielzahl von anwendungsspezifischen Inspektionen. Die enge Integration mit anderen automatisierten Geräten garantiert eine schnellere und zuverlässigere Verarbeitungsleistung. Insgesamt bietet INS-3000 Tool eine zuverlässige automatisierte Masken- und Waferinspektion. Es wurde entwickelt, um die wachsenden Anforderungen der Halbleiterindustrie an ein Werkzeug mit erweiterten Erkennungsfunktionen, schnellem Durchsatz und hochwertigen Fehlersortierungsfunktionen zu erfüllen.
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