Gebraucht LEICA INS 3000 #9285578 zu verkaufen

LEICA INS 3000
ID: 9285578
Wafer defect inspection system.
LEICA INS 3000 ist eine umfassende Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die eine präzise Inspektion von Mustertreue, Defekten, Ätzen und Filmdicken von elektronischen Geräten ermöglicht. Mit patentiertem optischem Design und fortschrittlichen Bildgebungstechnologien ermöglicht LEICA INS-3000 eine Bildgebung mit Submikron-Auflösung und eine Funktionsanalyse, die den strengsten Industriestandards und -anwendungen entsprechen kann. Das System verfügt über einen hocheffizienten Algorithmus und eine modulare optische Abtasteinheit, die eine präzise Bildgebung und Inspektion ermöglicht. INS 3000 verwendet einen Dual-Masken- und Wafer-Computer, mit dem Benutzer Bilder vor Ort in Echtzeit überwachen und überprüfen können. Das Werkzeug verfügt über eine unabhängige Laserdiodenbeleuchtungsquelle mit einstellbarer Lichtleistung. Die GRIN-Optik und die polarisationsempfindliche erweiterte Tiefenschärfe (EDF) optimieren die bildgebende Auflösung weiter und reduzieren die Artefaktierung von Merkmalen durch Aberrationen im optischen Pfad. INS-3000 verfügt über einen hochauflösenden digitalen Halbleiter-Imager, der Bilder isolierter Merkmale auf dem Wafer mit einem Dynamikbereich von > 4 Größenordnungen aufnimmt. Die Anlage umfasst auch eine Reihe spezialisierter Signalverarbeitungstechniken zur Durchsatz- und Rauschreduzierung, um eine zuverlässige Fehlererkennung und -analyse sicherzustellen. Darüber hinaus verwendet LEICA INS 3000 ein Modell farbcodierter Parameter, die manipuliert und feinjustiert werden können, um die genauesten Fehler oder Merkmale zu identifizieren, um die genaueste Analyse zu ermöglichen. Die Masken- und Wafer-Bildgebungsausrüstung ist mit fortschrittlicher automatisierter Mustererkennung ausgelegt, die es ermöglicht, selbst kleinste Unvollkommenheiten auf einem Wafer schnell zu messen und zu erkennen. Durch eine vollständig anpassbare grafische Benutzeroberfläche und ein dynamisches Prozessleitsystem können Anwender das Gerät schnell auf ihre spezifischen Erkennungsanforderungen und Spezifikationen konfigurieren. LEICA INS-3000 ist ideal für Prototyping, Fertigung und Fehleranalyse von elektronischen Geräten in den modernsten Halbleitertechnologien. Die Maschine ist in der Lage, sehr kleine Funktionsgrößen (< 0,5 μ m) zu erkennen und zu analysieren und liefert zuverlässige Ergebnisse mit hoher Präzision und Wiederholbarkeit. Mit hohem Durchsatz, geräuscharm und intuitiven Funktionen bietet das INS 3000 eine umfassende, kostengünstige Lösung für die Masken- und Waferinspektion.
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