Gebraucht LEICA INS 3000 #9410355 zu verkaufen

LEICA INS 3000
ID: 9410355
Wafer defect inspection systems.
LEICA INS 3000 ist eine umfassende Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für den Halbleiterherstellungsprozess. Mit seinem hohen Durchsatz und niedrigen Betriebskosten ist dieses System ideal für Gießereien, IDMs und Spitzen- oder Standalone-Fabs. LEICA INS-3000 ist für maximale Zuverlässigkeit und Flexibilität konzipiert und bietet eine echte fehlerfreie Inspektionsfähigkeit für eine Vielzahl von Anwendungsanforderungen. Seine fortschrittlichen optischen und Softwaretechnologien erhöhen die Geschwindigkeit und Genauigkeit der Inspektionen und sorgen dafür, dass alle Fehler schnell identifiziert und beseitigt werden. Die INS 3000 Einheit besteht aus einer ausgeklügelten optischen Maschine zur Waferinspektion und einem integrierten programmierbaren Maskeninspektionswerkzeug. Seine optische Komponente verwendet ein automatisiertes Linienrastermikroskop auf der Basis von Fourier-Optik, das hohe Auflösungs- und Kontrastwerte bietet. Ein Grid Array von CCDs ist in das Asset integriert, was die Inspektionsgeschwindigkeit und Effizienz erhöht. Präzisionsscanner, Laser, telezentrische Projektionsoptiken und Laserautofokus sind integriert und ermöglichen eine erstklassige Fehlererkennung. Das Modell verfügt auch über eine programmierbare Maskenprüfeinrichtung, die ein hochauflösendes Mehrwellenlängen-Bildgebungssystem verwendet, das mit der optischen Komponente integriert ist. Es wurde entwickelt, um Fehler an Photomasken und Retikeln mit hoher Empfindlichkeit und Kontraststärke zu erkennen. Das Gerät verfügt auch über einen leistungsstarken SuperMUM-Algorithmus, der Oberflächenfehler wie Kratzer, Fingerabdrücke usw. sowie Kanten, Kanten und Ecken, Subpixelpartikel und Verunreinigungen erkennen kann. Neben der optischen Maschine und dem Maskenprüfgerät bietet INS-3000 auch eine Reihe von Softwarelösungen für die Datenanalyse und -berichterstattung. Es ermöglicht Benutzern, Fehler schnell zu identifizieren und zu klassifizieren sowie Berichte mit anderen Mitgliedern des Inspektionsteams zu teilen. Eine erweiterte 3D-Fehlercharakterisierung ist ebenfalls in die Software integriert, so dass Benutzer detailliertere Informationen über einzelne Fehler erhalten. Die Software ist benutzerfreundlich und intuitiv und ermöglicht eine bessere Zusammenarbeit, Entscheidungsfindung und Qualitätskontrolle. Das Modell LEICA INS 3000 wurde für maximale Leistung und Wirtschaftlichkeit entwickelt. Sein robustes Design und fortschrittliche Technologien sorgen für eine zuverlässige, genaue und effiziente Fehlererkennung. Mit seiner intuitiven Software können Benutzer Probleme schnell erkennen und beheben, bevor sie zu kostspieligen Fehlern werden. LEICA INS-3000 ist ein ideales Werkzeug für die Halbleiterindustrie und eine ausgezeichnete Wahl für Fertigungsanlagen, die eine umfassende, kostengünstige und zuverlässige Masken- und Waferinspektionsanlage suchen.
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