Gebraucht LEICA INS 3000 #9412578 zu verkaufen

LEICA INS 3000 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die für die Halbleiterinspektion entwickelt wurde. Es ist ein leistungsfähiges, hochpräzises System, das Inspektionen bereitstellt, die alle wichtigen Standards der Halbleiterindustrie erfüllen. LEICA INS-3000 verwendet hochauflösende CMOS- und CCD-Detektoren zusammen mit Objektivlinsen, um Wafer und Masken systematisch auf eine Reihe von Halbleiterdefekten zu scannen. Das Gerät bietet eine breite Palette von Inspektionsmodi, einschließlich Pitch-extrahiert, Split-Imaging und Full-Field-Inspektionen. Pechextrahierte Inspektionen sind nützlich, um eng beabstandete Muster auf den Masken zu analysieren, während Split-Imaging entwickelt wurde, um bestimmte Arten von Defekten sowohl in dichten als auch in dispergierten Mustern zu erkennen. Die Vollfeldinspektionen ermöglichen höchste Auflösung und Genauigkeit, da sie jedes Pixel der Maske exakt scannen und vergleichen. IN 3000 verwendet auch fortschrittliche Bildverarbeitungstechniken. Dazu gehören automatisierte Ausrichtung, Fehlerklassifizierung und Multi-Scale-Analysen, mit denen die Maschine Fehler konsequent identifizieren kann. Darüber hinaus bietet die Innerviewer-Technologie des Tools Echtzeit-Feedback, um den Benutzer zu benachrichtigen, wenn ein Fehler erkannt wird. Das Asset ist einfach zu bedienen und bietet Integrationsoptionen mit einer Vielzahl von Software- und Hardwarekomponenten. Die benutzerfreundliche Oberfläche ist für einen schnellen und effizienten Betrieb optimiert, und die automatisierten Ausrichtungs- und Messfunktionen vereinfachen die Einrichtung von Inspektionen und Ergebnisprüfungen. INS-3000 ist ein ideales Masken- und Wafer-Inspektionsmodell für jede Halbleiterproduktion. Seine Auflösung und Genauigkeit machen es extrem zuverlässig für die Erkennung und Analyse einer Vielzahl von Halbleiterdefekten. Das Gerät ist sehr benutzerfreundlich, so dass es für die Bediener einfach ist, das System schnell und effektiv einzurichten und zu betreiben. Mit seinem umfangreichen Spektrum an Inspektionsmodi und erweiterten Bildverarbeitungsfunktionen bietet LEICA INS 3000 eine effiziente und zuverlässige Methode zur Durchführung umfassender Halbleiterinspektionen.