Gebraucht LEICA INS 3300 #9285724 zu verkaufen

LEICA INS 3300 ist eine hochmoderne Masken- und Waferinspektionsanlage, die hochauflösende, präzise Bildgebungsleistung bei der Prüfung und Inspektion miniaturisierter elektronischer Komponenten liefert. Es verfügt über ein fortschrittliches optisches Design, das auf die leistungsfähigen bildgebenden Anforderungen der Wafer- und Maskeninspektion zugeschnitten ist. Eine Kombination aus hochauflösender Optik, Multi-Exposure-Bildgebung und optimierter Software bietet überlegene Bildgebungsleistung und maximale Genauigkeit bei niedrigen Gesamtbetriebskosten. Das System umfasst mehrere Detektoren, wie einen ladungsgekoppelten Bauelement (CCD), oder komplementäre Metalloxid-Halbleiter (CMOS) -Imager, die hochauflösende Abbildungsleistung bieten. Der abbildende Objektivbereich umfasst ein 4x Objektiv mit einem Aperturbereich von f/2.8-5.0 und ein 10x Objektiv mit einem Aperturbereich von f/8 bis f/13. Entwickelt mit einer Epi-Fluoreszenz-Konfiguration nach Industriestandard, ist das Gerät mit einer V-Mount-Abbildungskammer und einer robusten Steuerungsplattform ausgestattet, die ein Master-Steuermodul, eine Controller-Einheit und eine bildgebende Steuerungssoftware umfasst. LEICA INS3300 bietet eine Vielzahl von Bildgebungs- und Inspektionsmöglichkeiten. Dazu gehören Merkmalsmessung, Bilderfassung, Mustererkennung, Waferausrichtung, Spektralanalyse, Mustervergleich, Fehlererkennung und Fehleranalyse. Darüber hinaus umfasst die Maschine Algorithmen, die speziell für die Halbleiterbauelementinspektion entwickelt wurden und eine genauere Identifizierung von Defekten in Masken-, Wafer- und Verpackungsherstellungsprozessen ermöglichen. Das Tool bietet auch automatisierte Kalibrierroutinen und automatisierte Fehlererkennung, was eine höhere Effizienz und Genauigkeit bei der Erkennung von Fehlern ermöglicht. Das INS 3300 eignet sich auch gut für den Einsatz in Halbleitermesstechnik-Anwendungen mit automatisierten Merkmalsmessfunktionen und für Linienbreitenmessungen, prozesszentrische Messungen und statistische Messungen optimierten Algorithmen. Entworfen für überlegene messtechnische Leistung, ist die Anlage auch mit Tools für schnelle Datenanalyse, Visualisierung und Reporting ausgestattet. INS3300 liefert hochauflösende Leistung im kompakten Formfaktor und ist eine ideale Lösung für eine Vielzahl von Halbleiterinspektions- und Metrologieanwendungen. Das Modell bietet eine umfassende Reihe von Funktionen zur Maximierung der Leistung und optimierte Software für eine verbesserte Analyse und Berichterstattung. Es ist ideal für diejenigen, die beispiellose Leistung in der Inspektion und Messtechnik von Halbleiterbauelementen benötigen.