Gebraucht LEICA / VISTEC INS 1000i #9265479 zu verkaufen

ID: 9265479
Wafer inspection system.
LEICA/VISTEC INS 1000i ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die eine hochpräzise Oberflächen- und Profilinspektion für die Halbleiterherstellung ermöglicht. Das System kann für eine Vielzahl von QC- und Forschungsanwendungen verwendet werden, einschließlich Stempelbindung, Metallisierung, Lithographie, Messtechnik und Fehlerinspektion. LEICA INS 1000i nutzt eine leistungsstarke Kombination aus Mikroskopopoptik, digitaler Signalverarbeitung und fortschrittlichen Algorithmen, um hochauflösende Bilder und Analysen zu erhalten. Das Gerät verfügt über eine 30-Millionen-Pixel-Kamera, die optimiert ist, um klare Bilder bis zu 1 μ m Größe ohne Verwischung oder Verzerrung aufzunehmen. Dies ermöglicht eine genaue, detaillierte Abbildung eines Bereichs von Halbleitermaterialien, einschließlich Oxid, Metall oder dielektrischen Materialien. Die Maschine ist in der Lage, Oberflächeninspektion, Waferinspektion und Profilmessung in einem Paket. Es ist mit einer 6-Achsen-Scanstufe ausgestattet, die mit bis zu 100 mm/Sekunde scannen kann und eine Hochgeschwindigkeitsprüfung und -analyse ermöglicht. Das Tool verfügt außerdem über einen integrierten SD- und HD-Scan-Modus, der schnelle Inspektionszeiten und maximalen Durchsatz ermöglicht. VISTEC INS 1000i bietet automatisches Beat-Matching für die Erkennung und Analyse von Waferkanten. Diese Funktion ist so konzipiert, dass Fehlpositiven bei der Wafer-Inspektion vermieden werden. Das Asset verfügt zudem über eine automatisierte Messung und Analyse der Flachheit und Partikelgröße von Wafern. Seine Kantenverbesserungs- und Kontrastverbesserungsfunktionen stellen sicher, dass die Unterschiede zwischen Zielmaterial und Nicht-Zielpartikeln leicht erkennbar sind. Das INS 1000i ist mit benutzerfreundlicher Betriebssoftware konzipiert, die ein minimales Training oder Fachwissen erfordert. Es verfügt über vollautomatische Setup-Routinen für die einfache Auswahl von Parametern ohne manuelle Einstellung oder Kalibrierung. Die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglicht eine schnelle und einfache Bedienung mit dem Modell. Abschließend ist LEICA/VISTEC INS 1000i eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung für die Halbleiterherstellung. Die 30-Millionen-Pixel-Kamera, die 6-Achsen-Scanstufe und die automatisierten Beat-Matching-Funktionen sorgen für hochauflösende Bildgebung und genaue Inspektion bis zu einer Größe von 1 μ m. Es verfügt auch über automatisierte Mess- und Analysefunktionen, Kantenverbesserungs- und Kontrastverbesserungsfunktionen sowie eine benutzerfreundliche Betriebssoftware mit automatisierten Einrichtungsroutinen.
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