Gebraucht LEICA / VISTEC INS 3300 #9200028 zu verkaufen

LEICA/VISTEC INS 3300 Maske & Wafer Inspektionsgeräte sind ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug zur Erkennung und Bewertung von Defekten in verschiedenen Substraten, einschließlich Halbleiterscheiben, Masken und Flachplatten. Es verfügt über erweiterte optische Submikron-Auflösung und automatisierte Kartierungs- und Analysefunktionen, was es ideal für die Erkennung von sehr kleinen Defekten und Bereichen mit niedrigem Kontrast macht, die sonst schwer zu erkennen sind. Das System ist für Produktionsumgebungen mit hohem Durchsatz ausgelegt und kann Hunderte von Proben pro Stunde verarbeiten. Es verfügt über eine breite Palette von automatisierten Inspektionsaufgaben, einschließlich automatisierter Fehlercharakterisierung, automatisierter Mustererkennung und automatisierter Fehlererkennung. Die hochauflösenden Bildgebungsfunktionen des Geräts ermöglichen es Benutzern, die gesamte Bandbreite der Geräte- und Verbindungsfunktionen auf den zu inspizierenden Substraten zu überprüfen. Die Maschine besteht aus mehreren Komponenten. Das Mask Arrangement Tool ermöglicht es Benutzern, die Inspektion einzurichten, um Strukturen auf einer Maske zum Vergleich mit einem entsprechenden Bild zu identifizieren. Die Workbench ist die Steuerschnittstelle zur Verwaltung aller Inspektionsaufgaben. Die automatisierten Scan-Positionierer sorgen für eine präzise, schnelle Bewegung der Maske im Sichtfeld. Die Inspektionstechnologien des Werkzeugs reichen von mehreren Weißlicht-Beleuchtungstechniken bis hin zu Infrarot und spezialisierten Beleuchtungsmodi. Die Anlage ist auch mit spezialisierten Algorithmen ausgestattet, um eine automatische Erkennung von Schablonen- und Lötkugeldefekten zu ermöglichen. Darüber hinaus kann das Modell so konfiguriert werden, dass eine Laminierprüfung von gestapeltem Werkzeug durchgeführt wird. Das Gerät wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Substraten zu handhaben, von Nichthalbleitermaterialien bis hin zu ultraempfindlichen aufgebauten Widerständen. Diese Vielseitigkeit macht das System für eine Vielzahl von Anwendungen in Branchen wie Biomedizin, Nanotechnologie, Luft- und Raumfahrt und Optik geeignet. Die Prüfergebnisse werden auf der Benutzeroberfläche des Geräts angezeigt, die eine intuitive und interaktive grafische Darstellung der Ergebnisse anzeigt. Dazu gehören einfach zu veröffentlichende Fehlerdiagramme und automatische Fehlerberichterstattungsfunktionen, die detaillierte Informationen zu Testparametern und Fehlerergebnissen liefern. LEICA INS 3300 Maske & Wafer Inspektionsmaschine ist ein fortschrittliches und zuverlässiges Werkzeug zur Fehlererkennung und -analyse. Seine automatisierten Funktionen, gepaart mit seinen hochauflösenden Bildgebungsfunktionen, ermöglichen es Benutzern, sehr kleine Defekte und Bereiche mit geringem Kontrast in einer Vielzahl von Substraten zu erkennen. Darüber hinaus bietet die Benutzeroberfläche des Tools eine intuitive und interaktive grafische Darstellung der Defekte, wodurch die Fehleranalyse und das Reporting zu einer einfachen und rationalisierten Aufgabe werden.