Gebraucht LEICA / VISTEC INS 3300 #9242162 zu verkaufen

LEICA/VISTEC INS 3300 ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um Oberflächenfehler auf Flachbildschirmen, Halbleiterscheiben, Photomasken und anderen ähnlichen Substraten zu identifizieren und zu analysieren. Das System nutzt leistungsstarke Abbildungsoptiken und automatisierte Fehlererkennungsalgorithmen, um eine präzise und genaue Erkennung, Klassifizierung und Quantifizierung von Fehlern bis zum Sub-Mikron-Niveau zu ermöglichen. Das Gerät verfügt über ein ergonomisches Design, um eine effiziente und komfortable Bedienung durch Labortechniker zu ermöglichen. Seine fortschrittliche optische Maschine ist in der Lage, Inline-Bilder von hochauflösenden Substraten über Transmissions- und reflektiertes Licht zu erzeugen. Es kann für ein- oder mehrachsige Abtastung konfiguriert werden, um die Inspektion von großen Substraten zu ermöglichen. Das Tool enthält auch ein robustes Firmware-Paket mit intuitiven grafischen Benutzeroberflächen, automatischer Funktionsausrichtung, automatischer Fehlererkennung und Echtzeitanalyse der Ergebnisse gemäß branchenüblichen Fehlermessgrößen. LEICA INS 3300 verfügt auch über eine Vielzahl von genauen, wiederholbaren und zuverlässigen Bildgebungs-, Sortier- und Analyseparametern. Zu diesen Parametern gehören Beleuchtungsauswahl, Belichtungszeitpunkt, Bildschwellen, Fehlergrößenbegrenzungen, durchschnittlicher Kontrast, erweiterter Bereich, Partikelgrößenbegrenzungen, Hintergrundsubtraktion, Partikeleinschlussparameter und Punktdetektion. Das Multi-Mode-Feature-Set des Asset macht es sowohl für industrielle Anwendungen als auch für den Laboreinsatz geeignet. Die Fehlercharakterisierungsergebnisse des Modells können sowohl als Absolutwerte als auch als gemessene oder geschätzte Werte relativ zu einer „perfekten“ Probe angegeben werden. Dies macht die Ausrüstung ideal für die Inspektion von Proben, die durch den Herstellungsprozess Variationen in Größe und Form aufweisen. Darüber hinaus bietet das System eine breite Palette von Ausgabeformaten, die die Kompatibilität mit anderen Systemen verwendeten Datenformaten ermöglichen und eine einfache Integration mit anderen Komponenten ermöglichen. Dies erleichtert einen einfachen Prozess, um umfassende Berichte zu erstellen und genaue Vergleichsmessungen zwischen verschiedenen Substraten zu erstellen. Abschließend ist VISTEC INS 3300 eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine, die die für die automatisierte Fehlererkennung, Klassifizierung und Quantifizierung erforderliche Präzision und Genauigkeit bietet. Das Tool bietet umfassende Ausgabefunktionen, benutzerfreundliche Bedienung und Ergebnisse, die mit branchenüblichen Fehlermessgrößen kompatibel sind. Es ist ein ideales Werkzeug für industrielle Anwendungen und Laboranwendungen.