Gebraucht LEICA / VISTEC INS 3300 #9266076 zu verkaufen

LEICA/VISTEC INS 3300 ist eine leistungsstarke Masken- und Waferinspektionsanlage, die von LEICA Microsystems und der VISTEC Semiconductor systems GmbH entwickelt wurde. Es wurde entwickelt, um die vollständige Genauigkeit und Konsistenz bei der Erkennung, Inspektion und Messung aller Eigenschaften integrierter Schaltungen wie Fehlergröße und -typ zu gewährleisten und gleichzeitig niedrige Zykluszeiten und -kosten sicherzustellen. LEICA INS 3300 bietet Spitzenleistung und Genauigkeit mit seinem hohen numerischen Blendenobjektiv und verwendet eine Kombination aus 0.65NA und 0.45NA Objektiven für eine überlegene Bildauflösung und zuverlässige Fehlererkennung. Mit einer Vollbild-Bildgröße von 21 x 21mm bietet es eine vollständige Abdeckung des ICs und bietet ein größeres Sichtfeld und eine höhere Produktivität. Das System verfügt über eine verbesserte automatisierte Optiksteuerung und Autofokus-Funktionalität, um zuverlässige Ergebnisse zu gewährleisten, wodurch die kostspielige manuelle Anpassung und die Genauigkeit der Messungen entfallen. Das Gerät unterstützt auch verschiedene Betriebsarten, wie z.B. lichtschwachen Kontrast und Luminanzkontrast, um eine optimale Erkennung von Transistor-Gate-Öffnungen und anderen mikroskopischen Defekten zu gewährleisten. Die Maschine kann ferner zur Erkennung, Analyse und Meldung von Strukturfehlern wie Linienbreite und Abstandsschwankungen sowie Partikelfehlern und Rückständen eingesetzt werden, was ein vollständiges Bild des Wafers ergibt. Die erweiterte EasyPrint-Funktion ermöglicht das schnelle und genaue Drucken von Inspektionsbildern auf harte oder weiche Medien. Das Tool bietet auch eine Reihe von Konnektivitätsoptionen, wie Ethernet, USB und GPIB, für eine komfortable Integration mit anderen Instrumenten. VISTEC INS 3300 ist die ideale Lösung für eine kostengünstige und zuverlässige Masken- und Waferinspektion. Es bietet eine Kombination aus außergewöhnlicher Geschwindigkeit und Genauigkeit für eine Reihe von Anwendungen und ist damit eine ideale Wahl für Halbleiterhersteller, die nach zuverlässigen und kostengünstigen Wafer-Inspektionslösungen suchen.