Gebraucht LEICA / VISTEC LDS 3300M #9249376 zu verkaufen

ID: 9249376
Weinlese: 2007
Automated defect inspection system 2007 vintage.
LEICA/VISTEC LDS 3300M ist eine moderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die eine hochauflösende Bildgebung für eine Vielzahl von Inspektionsprozessen ermöglicht. Es ist ideal für die IC-Verpackung, Lithographie, Vorderseitendruck und Photomasken-Auswertung. Das System ist mit einem SCM48x Objektiv mit motorisiertem Fokus und einer 8 "High Dynamic Range (HDR) Kamera ausgestattet, die eine genaue Abbildung komplizierter Komponenten gewährleistet. Die verbesserte Lichtquelle basiert auf PolyLED-Technologie mit LEDs mit einer spektralen Bandbreite von 370nm-900nm und bietet überlegene Bildgebungsleistung sowie lange Lebensdauer. Darüber hinaus verfügt LEICA LDS3300M über eine X-Y- θ-Bühne, die eine schnelle Positionierung und präzise Positionierung ermöglicht. Eine Hochgeschwindigkeits-, Vision-basierte Ausrichtungsfunktion ist ebenfalls enthalten, so dass das Gerät jedes normale oder unregelmäßig geformte Ziel innerhalb weniger Sekunden scannen kann. Die Maschine kann hochauflösende Bilder sowohl nach oben als auch nach unten in mehreren Winkeln und Tiefen aufnehmen. VISTEC LDS 3300 M kann an einen PC angeschlossen werden, um Daten aus der Inspektion zu verarbeiten und zu analysieren. Das Tool unterstützt auch Datenimport- und -exportformate wie TIFF, JPEG, BMP und andere Bildverarbeitungsformate. Die Anlage verfügt über eine benutzerfreundliche Bildanalysesoftware, die eine umfassende Maskeninspektion und Waferbewertung mit Fehlererkennung und Inspektionsertragsanalyse ermöglicht. Die Software bietet auch visuelles Feedback in Form von Falschfarbenplotting sowie verschiedene Filtertechniken sowohl für die Daten als auch für Bilder. LDS 3300 M ist in der Lage, Deformationen in Masken, Photomasken und Wafern bis zu 4 μ m zu erkennen und zu korrigieren, um Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Inspektionen zu gewährleisten. Das Modell unterstützt auch mehrere Sprachen und kann an alle geschäftsspezifischen Anforderungen angepasst werden. Insgesamt ist LEICA LDS 3300M eine erstklassige Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die hochauflösende Bildgebung, automatisierte Positionierung, Fehlfarbenprotokollierung und Ertragsanalyse bietet. Es ist ideal für eine Vielzahl von Anwendungen und gewährleistet genaue und zuverlässige Ergebnisse.
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