Gebraucht LEICA / VISTEC MIS 200 #9024068 zu verkaufen

ID: 9024068
Inspection system 220 V, 50/60 Hz PMAX: 400 VA IMAX: 4 A Laser class 1.
LEICA/VISTEC MIS 200 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die hauptsächlich in der Halbleiterindustrie eingesetzt wird. Es wurde entwickelt, um eine Reihe von Halbleitermasken und Wafern mit einer einzigartigen Kombination aus Geschwindigkeit, Genauigkeit, Flexibilität und Bedienkomfort zu überprüfen. LEICA MIS 200 verwendet fortschrittliche Bildgebungs- und Messtechnologien, um Bilder schnell zu erfassen, sie mit Maßstäben zu vergleichen und schnell Korrekturmaßnahmen zu ergreifen, was eine höhere Ausbeute an Wafern und Chips ermöglicht. Das System maximiert Prozesssicherheit und Produktleistung durch gleichzeitige Inspektion der Oberfläche und ihrer Rückseitenkonturen. Dieses leistungsstarke Werkzeug misst verschiedene Dicken und CD-Werte bis zu einer Auflösung von 0,25 Mikron gründlich. VISTEC MIS 200 beherbergt eine Laser-Interferenzeinheit integriert mit einem fortschrittlichen Vision-Sensor, wo der Benutzer Parameter sowohl für WL- als auch für Bildgebungsfunktionen für optimale Leistung einstellen kann. MIS 200 Maschine ist in der Lage, vier Punkte Inspektion und Wafer Sequenzierung, um mehr konsistente Wafer Form und Genauigkeit zu gewährleisten. Mit bis zu 8 Stellen kann das Werkzeug vier verschiedene Bereiche des Substrats gleichzeitig separat ausrichten und messen. Die vier optischen Elemente sind präzise ausgerichtet und kalibriert, was beste Leistung und Wiederholbarkeit gewährleistet. Darüber hinaus ist die Anlage in der Lage, lange Reichweite Inspektion bis zu 500 mm und ein großes Sichtfeld bis zu 180 mm, so dass die Flexibilität, verschiedene Größen von Substraten zu überprüfen. LEICA/VISTEC MIS 200 bietet eine benutzerfreundliche GUI und eine intuitive Software, die einfach zu navigieren ist. Das Modell ist mit einem großen LCD-Multi-Touch-Display ausgestattet, wodurch der Prozess der Parametereinstellung effizienter wird. Darüber hinaus kann das Gerät über USB, VGA und Ethernet-Verbindungen mit anderen Geräten und Geräten verbunden werden. Abschließend ist LEICA MIS 200 ein leistungsstarkes Mask & Wafer Inspection System, das eine ideale Lösung für die Halbleiterindustrie ist. Mit modernster Bildgebungs- und Messtechnik, intuitiver Benutzeroberfläche, Genauigkeit und Flexibilität bietet dieses Gerät Halbleiterherstellern beispiellose Inspektionen von Masken und Wafern.
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