Gebraucht LEICA / VISTEC MIS 200 #9083824 zu verkaufen

LEICA/VISTEC MIS 200 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die für hochpräzise Bildgebungsfähigkeit entwickelt wurde. Dieses System dient zur Inspektion von Mehrschichtstrukturen bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen. Es verfügt über eine fortschrittliche synthetische Bildgebungstechnologie, um klare, detaillierte Bilder zu liefern, die Fehler im Herstellungsprozess schnell erkennen können. Das Gerät verwendet einen Hochleistungs-CCD-Bildgebungsdetektor, der ultraviolettes (UV) und sichtbares Licht für eine verbesserte Bildgebungsfähigkeit aufnehmen kann. Dadurch entstehen klare, hochwertige Bilder, die inhomogene Muster in der Gerätestruktur schnell erkennen können. Es verfügt über eine Vielzahl von Inspektionsmodi, die es ermöglichen, auch kleinste Defekte zu identifizieren, einschließlich kleinster Partikel wie Staub, Risse usw. Diese können schnell erkannt werden, so dass Benutzer Fehler im Gerät sofort beheben können. Eine hochauflösende Abbildungslinse bietet ein breiteres Sichtfeld, so dass die Maschine eine große Fläche des Geräts inspizieren kann. Dadurch können Fehler in der Struktur leicht erkannt werden, was eine schnellere Fehlerbehebung ermöglicht. Das Tool verwendet auch einen erweiterten Clustering-Algorithmus, um kleine Partikel zu erkennen, die mit bloßem Auge möglicherweise nicht sichtbar sind. LEICA MIS 200 verwendet auch eine Vielzahl von Konfigurationen, die es ermöglichen, verschiedene Formen und Größen von Geräten zu überprüfen. Auf diese Weise können Anwender schnell erkennen, welche Konfiguration für das jeweilige Gerät am besten geeignet ist. Darüber hinaus verfügt das Asset über automatische Fokussierung und automatische Belichtungsalgorithmen, die sicherstellen, dass Bilder immer knackig und klar sind. Das Modell wurde für Zuverlässigkeit und Haltbarkeit entwickelt, um sicherzustellen, dass es lange hält und den Benutzern Ruhe gibt. Seine robuste Konstruktion sorgt für zuverlässigen Service auch in rauen Umgebungen. All diese Eigenschaften machen VISTEC MIS 200 zur perfekten Lösung zur Inspektion von Mehrschichtstrukturen bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen.